一、概述：

TLK790（CCD）型全譜直讀光譜儀，是高性能、流線型全新設(shè)計的臺式全譜直讀光譜儀。儀器采用國際標(biāo)準設(shè)計、制造工藝技術(shù)和數(shù)字化技術(shù)；采用的真空光室設(shè)計、全數(shù)字激發(fā)光源；采用的CCD檢測器，采用高速數(shù)據(jù)交換系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機械、金屬、汽車、造船、電力、航空等領(lǐng)域，能滿足廣大用戶各種分析要求。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

分析基體：Fe、Cu、Al、Ni、Ti、Co、Zn、Sn、Mg、Pb等

光學(xué)結(jié)構(gòu)：帕邢-龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍：130-800nm

焦 距：400mm

光柵刻線：3000條/mm

探測器：高性能CCD陣列

電 極：鎢材噴射電極

分析間隙：樣品臺分析間隙：3.4mm

光源類型：全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）

激發(fā)頻率：100-1000Hz

放電電流：400A

真空系統(tǒng)：真空軟件自動控制、監(jiān)測

檢測時間：一般25S左右

光室溫度：34℃±0.3℃

工作環(huán)境：電源：AC220V±10% 50Hz   溫度：10℃-30℃   濕度：≤80%

工作氬氣：純度99.999%   進口壓力0.5MPa   激發(fā)流量3.5L/min

三、主要特點：

1、采用高性能光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計及采用高精度的光學(xué)元件，可精確測定非金屬元素C、P、S、N以及各種合金元素含量，測定結(jié)果準確，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性較好。

2、的真空光學(xué)室結(jié)構(gòu)設(shè)計，使真空室容積更小，抽真空速度不到普通光譜儀的一半。將入射窗與真空室分離，使入射窗日常清洗維護方便快捷。

3、光學(xué)系統(tǒng)自動進行譜線掃描，自動光路校準，確保譜線接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。

4、樣品激發(fā)臺采用散熱性能好的合金材料制成，堅固耐用。電極自吹掃功能的設(shè)計，為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境，也使激發(fā)臺清潔電極更加容易。開放式激發(fā)臺和靈活的樣品夾設(shè)計，以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析。

5、光路設(shè)計采用羅欄園結(jié)構(gòu)，CCD上下交替排列，保證接收全部的譜線。不增加硬件設(shè)施的情況下，即可實現(xiàn)多基體分析。相比光電倍增管（PMT）光譜儀，可大大降低客戶使用成本、拓展使用范圍。

6、采用的噴射電極技術(shù)，使用鎢材料電極，在激發(fā)狀態(tài)下，電極周圍會形成氬氣噴射氣流，這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點周圍不會與外界空氣接觸，提高激發(fā)精度；配上的激發(fā)臺及氬氣氣路設(shè)計，大大降低了氬氣使用量。

7、儀器采用高性能CCD器件、高性能FPGA、DSP及ARM處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集分析功能，并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運行狀況。

8、全數(shù)字化等離子激發(fā)光源，超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字激發(fā)脈沖，確保激發(fā)樣品等離子體能量超高分辨率和高穩(wěn)定輸出。滿足各種不同材料的激發(fā)要求。

9、計算機和光譜分析儀之間使用以太網(wǎng)卡TCP/IP協(xié)議，避免電磁干擾、光纖老化等弊端。

10、專用的光譜操作軟件兼容于windows系統(tǒng)。同時可以根據(jù)客戶需求配備各種語言版本。軟件操作簡單，即使沒有任何光譜儀知識及操作經(jīng)驗的人員，只需經(jīng)過簡單的知識培訓(xùn)即可上手使用。