一般繞線元件于生產(chǎn)檢驗(yàn)大多只檢驗(yàn)L、C、R、圈數(shù)、相位等低壓項(xiàng)目,高壓項(xiàng)目多只針對(duì)不同線圈間或線圈對(duì)鐵芯或金屬外殼之安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試,對(duì)于線圈之自體絕緣卻因無(wú)良好的檢驗(yàn)工具而無(wú)法檢驗(yàn),而線圈之自體絕緣不良往往是造成線圈于高壓使用環(huán)境中形成層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良,或絕緣材料之劣化等所引起。
DWX系列即是應(yīng)提供線圈之自體絕緣狀態(tài)檢驗(yàn)新設(shè)計(jì)之工具,利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè)線圈形成RLC并連諧振,由諧振之衰減速度(AREA)及局部放電檢出(LAPLACIAN),透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù),可檢驗(yàn)出線圈之絕緣不良,測(cè)試簡(jiǎn)單快速可靠。大尺寸彩色TFT LCD顯示,以及全數(shù)位設(shè)計(jì),使DWX系列不僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng),更可應(yīng)用于研發(fā),品保分析,可大幅改善繞線元件因自體絕緣造成之潛在不良,提高應(yīng)用產(chǎn)品之壽命及穩(wěn)定 。
- 使一直以來(lái)困難的低感量脈沖測(cè)試成為可能
- 忠實(shí)的反應(yīng)實(shí)際測(cè)試峰值電壓及測(cè)試波形
- 100MHz的高速取樣,大幅提高局部放電之檢出能力
- 以波形之Laplacian(曲折率)數(shù)值處理技術(shù)分析判定局部放電強(qiáng)度,并以清晰之條圖顯示明了易懂
- 8.4 彩色TFT LCD畫面,波形及各測(cè)試結(jié)果清楚呈現(xiàn)
- 提供波形面積衰減比率及Laplacian數(shù)值處理比較判定等功能,可簡(jiǎn)單檢測(cè)出繞線之自體絕緣不良
- 絕緣崩潰電壓測(cè)試(DWX-05/10)
- 可以Compact Flash Memory Card拷貝或擴(kuò)充內(nèi)存參考波形數(shù)據(jù)
- 提供打印機(jī)接口,可簡(jiǎn)單連接ESP打印機(jī)打印畫面
- 引導(dǎo)式人機(jī)接口,操作容易
- 可選EtherNet轉(zhuǎn)接接口連結(jié)局域網(wǎng)絡(luò)(LAN)由PC等進(jìn)行遙控
- 輕巧設(shè)計(jì),節(jié)省作業(yè)空間
- 標(biāo)準(zhǔn)RS-232接口
Model | Description | 詢價(jià) |
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DWX-01 | 繞線元件脈沖測(cè)試器 1000V | |
DWX-05 | 繞線元件脈沖測(cè)試器 5000V | |
DWX-10 | 繞線元件脈沖測(cè)試器 10000V |