XLNCE SMX-BEN 臺式能量色散X射線熒光分析儀(EDXRF)為工藝開發(fā)、過程控制和質量保證等領域提供無損檢測、薄膜層厚和成分的測量手段。是研發(fā)工作和失效分析中的分析方法。它能促進在前期或早期生產階段的材料選擇和配方制定,并支持加工平臺工具以及產能生產。
- 提供一系列可選擇的X射線光源和初級濾片
- 配備一代的硅漂移探測器
- 為簡易校準過程提供經驗值和基本參數解決方案
- 超大分析樣品室
- X-Y-Z可編程定位
特殊應用領域:
- 光伏制造
- 金屬涂層
- 晶圓級金屬化和微電子
- 腐蝕/磨損和熱障分析
XLNCE SMX-BEN提供了的多樣化分析和超高的性價比。