- 信號源頻率范圍：DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30/50MHz
- 基本阻抗量測精度 ±0.08% ( 典型值 ±0.05%)
- 自動電平控制 (ALC) 功能
- 輸出阻抗 25Ω/100Ω 可切換
- 提供電表模式、多步測試、圖形掃圖、等效電路模型分析
- 內(nèi)建直流偏置電壓 ±12V
- 精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖，并提供量測電容之 C-V 曲線
- 超快量測速度 < 3mS( )
- 開路 / 短路 / 負載校正功能
- 電表模式下最多可顯示四個元件參數(shù)，電感值及 DCR 值可同時顯示
- 可同時量測和顯示自動元件分類：比較器功能及 Handler 接口 BIN分類功能
- 并搭配多樣治具，如 : 液態(tài)介電、介電治具和導磁系數(shù)量測
- 可搭配DC Bias直流偏流源測試系統(tǒng)
- 支援 RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面
- 適用于研發(fā)、制程、實驗室等檢測領域
- 可加購電腦連線軟體
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| 四顯參數(shù) 800*400 7 吋彩色螢幕，可以同時設定即顯示四種不同的參數(shù)。 | 校正 量測待測物之前，需要先做開路、短路、高頻負載校正、及定頻負載校正。 | |
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| DCR 量測電感 用于電感元件特性的量測，量測直流的電阻特性。一般用來評估電感的參數(shù)值為 Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感匝數(shù)與繞線材料會影響DCR 值。 | 多步測試 多步列表測試自動編成功能，最多 15 組 ( 可存 50 個編程 )。
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| 輸出阻抗 25?/100? 和自動電平控制 (ALC) 輸出阻抗 25?/100? 可以切換。自動電平控制 (ALC) 為工程師更精確量測元件。如積層陶瓷電容(MLCC)，電容值>1uF，需打開ALC 量測， 因為電容值在量測時有可能會低于真實的電容量。一般評估電容的參數(shù)值有 Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。 | 介電治具/液態(tài)介電 使用介電常數(shù)測試治具 FX-0000C7，6630 內(nèi)建公式直接算出材料介電數(shù)值 εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。使用液態(tài)介電治具 FX-000C20，用來評估電化學材料特性分析。
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| 導磁系數(shù) 使用導磁系數(shù)測試治具 FX-0000C8，6630 內(nèi)建公式直接算各種環(huán)形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽涂層材料的導磁系數(shù) μr'、μr"。
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半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性 實測 Y5V 型 MLCC 元件的直流偏壓特性 ( 尺寸為 1206 搭載治具 FX-000C12) 在頻率 100Hz 下串聯(lián)電容值為 9.70uF，利用 6632 阻抗分析儀施加 DC Bias 電壓 ±12V，其電容值從 9.7uF 下降至 1.46uF。 | |
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| 等效電路模型分析(選購) E模型適用于量測分析諧振器，上圖呈現(xiàn)出兩個共振頻率特性。一般諧振器、壓電片、或傳感器等元件在分析時，有別于其它元件的部份在于可能有一個以上的共振頻率。例如為了使壓電材料能以的振幅出力，就需要精準的得知諧振頻率的范圍。如上圖所示，以此模型即可明確的分析出兩個共振點間的頻率。 | 7 種不同的模型，結(jié)合不同類型的參數(shù) ( 電阻、電感、電容 )，目的是用三個或四個元素對阻抗與頻率特性進行建模。模擬自己的等效電路參數(shù)的阻抗軌跡值，然后將其與實際測量軌跡進行比較和參考自諧振頻率 (SRF)。 | |
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| PCB 板繞組電感線圈 汽車電源模組中越來越多采用多層 PCB 板繞組而成電感線圈的結(jié)構(gòu)，因 PCB 蝕刻制程中寄生于銅箔繞組上的寄生電容、阻值損耗，會降低整體的電感量造成共振頻率 SRF 偏移，這些 PCB 不良品可能導致成品組裝測試出現(xiàn) NG，可利用 6632 測量 PCB 線圈板重要參數(shù) L/Q/DCR/Rs/SRF。
| RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性 對于天線在實際運用上搭載周邊的線路時，針對發(fā)射端，天線一般連接在功率放大器 (PA)，另一接收端，天線會接上 LNA，對于天線最重的的特性即是阻抗的匹配，達到的功率輸出。 | |
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| 壓電元件/ 石英晶體分析頻率特性 精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖。分析壓電元件的關鍵參數(shù)如:Fs/Fp/Qm/Kp (機電耦合系數(shù) )。 |
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規(guī)格
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測試頻率 | 6632-1/1S | 10Hz ~ 1MHz |
| 6632-3/3S | 10Hz ~ 3MHz | |
| 6632-5/5S | 10Hz ~ 5MHz | |
| 6632-10/10S | 10Hz ~ 10MHz | |
| 6632-20/20S | 10Hz ~ 20MHz | |
| 6632-30/30S | 10Hz ~ 30MHz | |
| 6632-50/50S | 10Hz ~ 50MHz | |
| * S 為選購等效模型分析功能 | ||
| 最小分辨率 | 100mHz, 6位元頻率輸入 | |
| 準確度 | ±0.01% | |
| 基本測量準確度 | ± 0.08% (典型值± 0.05% ) | |
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AC 測試信號位準
| 測試信號電壓范圍 | 10mV - 2Vrms(100Ω), 10mV - 1Vrms(25Ω) |
| 電壓最小分辨率 | 1mV | |
| 準確度 | ALC ON：6％ * 設定電壓 ±2mV ALC OFF：10％ * 設定電壓 ±2mV | |
| 測試信號電流范圍 | 200µA - 20mArms | |
| 電流最小分辨率 | 10µA | |
| 準確度 | ALC ON：6％ * 設定電流 ± 20µA ALC OFF：10％ * 設定電流 ± 20µA | |
| DC測試信號位準 | 1V (固定) | |
| 測量時間 () | < 3mS | |
| 輸出阻抗 | 可切換25Ω、100Ω (標稱值) | |
| 測試參數(shù) | |Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻) 、C(電容)、 ESR(等效串聯(lián)電阻) 、ε (相對介電系數(shù))、μr (相對導磁系數(shù)) | |
| Bias | 可搭配 DC Bias | |
| 測量模式 | 電表模式、多步測試、掃描圖形分析、*等效電路模型分析(S型號 選購) | |
| 等效電路 | 串聯(lián)、并聯(lián) | |
| 校正 | 開路、短路、負載 | |
| 多步列表測試 | 50組 ，每組15個測試步驟 | |
| 等效電路模型分析 (選購) | 三元件 (4 種模型)、四元件(3 種模型) | |
| 內(nèi)建直流偏置電壓 | -12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 30MHz | |
| BIN分類 | 9級 () | |
| 比較器 | ABS、ΔABS、Δ%、OFF | |
| 內(nèi)建儲存 | 100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定 | |
| USB Host 儲存 | LCR Meter測試設定文件、多步測試設定文件、BMP圖像、掃圖畫面及資料 | |
| 介面 | RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device | |
| 選購 | 電腦連線軟體 | |
| 等效電路模型分析，三元件 (4種模型)、四元件 (3種模型) | ||
| 電源需求 | 電壓 90-264Vac | |
| 頻率 47-63Hz | ||
| 低功耗：30W | ||
| 液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯示 (800*480) | |
| 操作環(huán)境 | 溫度：10-40℃、濕度：20-90%RH | |
| 外觀尺寸(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
| 重量 | 3.95Kg | |
參數(shù)量測范圍
| |Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
| |Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
| G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
| θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
| θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
| Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
| Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
| D | 0.00000 to 9999.99 |
| Q | 0.00 to 9999.99 |
| Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
| Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
| εr' εr'' | 0 to 100000 |
| μr' μr'' | 0 to 100000 |
應用范圍
| 被動元件 | 電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體 |
| 半導體元件 | 變?nèi)荻O體之 cv 特性分析、二極體 |
| 介電質(zhì)材料 | 塑膠、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估 |
| 導磁材料 | |
| 其他元件 | 電路板上的元件阻抗評估 |
