EDX-800能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合 金、貴金屬成份分析.
主要特點(diǎn)
●分析元素范圍 Cl－Ｕ
●分析元素的濃度范圍 ppm—99%
●整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒
●美國原裝高靈敏電制冷Si(Pin)探測器
●電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
●優(yōu)異的峰背比、的痕量分析靈敏度
● 50KV,50W自防護(hù)X-射線管
●復(fù)合濾光片智能切換技術(shù)
產(chǎn)品特征：
☆ 可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛
☆ 集成FP法，Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗系數(shù)法
☆ 安全聯(lián)動裝置，軟硬結(jié)合的輻射設(shè)計
☆ 操作簡單、一鍵式操作
☆ 智能軟件自動參數(shù)設(shè)定和選擇濾光片
☆ X射線管超溫保護(hù)
☆ 電子冷卻，無需液氮和其它耗材
技術(shù)規(guī)格
| 儀器型號 | EDX-800能量色散X射線熒光光譜儀 | |
| 分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
| 分析范圍 | Na(11)-U(92)任意元素 | |
| 檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 樣品形狀 | 任意大小，任何不規(guī)則形狀 | |
| 樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
| X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
| 管電壓 | 5─50KV | |
| 管電流 | 1─1000ｕA | |
| 探測器 | 美國AMP-TEK X-123 Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng) | |
| 高壓發(fā)生器 | 美國SPELLMAN高壓發(fā)生器 | |
| 濾光片 | 智能濾光片自動選擇并自動轉(zhuǎn)換 | |
| 樣品觀察 | 500萬彩色攝像機(jī) | |
| 分析軟件 | 軟件產(chǎn)品 MS-V6.0版本，升級 | |
| 分析方法 | Alpha系數(shù)法（NBS-GSC法）、FP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法 | |
| 符合規(guī)范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 | |
