CCS(cells contral system)測(cè)試方案
一. 測(cè)試項(xiàng)目:
1. 短斷路測(cè)試。
2. 溫控電阻測(cè)試(NTC或PT系例)。
3. 焊接電阻測(cè)試(小于60微歐)
4. 交直流耐壓測(cè)試
5. 直流絕緣電阻測(cè)試。
二. 設(shè)備特點(diǎn):
1. 電腦化操作(所有產(chǎn)品規(guī)格在電腦端設(shè)定)。
2. 導(dǎo)通與高壓功能一體測(cè)試。
3. 掃碼啟動(dòng)
4. 測(cè)試完成后數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)。
5. 測(cè)試完成后自動(dòng)打印標(biāo)簽
6. MES對(duì)接。
三. 設(shè)備規(guī)格:
項(xiàng)目 | 產(chǎn)品規(guī)格 |
測(cè)試點(diǎn)位 | 低壓點(diǎn)位:72點(diǎn)/126點(diǎn)/252點(diǎn);高壓點(diǎn)位:8通道、16通道、32通道 |
斷/短路 | 1KΩ ~ 50KΩ |
導(dǎo)通 | 1uΩ ~ 50.0Ω |
電阻 | Max.10.0MΩ |
絕緣電阻 | 電壓:0?1KV測(cè)試范圍:1MΩ ~ 10GΩ |
AC耐壓 | 電壓:100V?5KV漏電流: 0?20mA |
DC耐壓 | 電壓范圍:100V?6KV 漏電流:0~5mA |
測(cè)試時(shí)間: | 0?999秒 |
四. 測(cè)試界面圖:
五. 設(shè)備架構(gòu)框圖:
六. 測(cè)試流程圖:
七. 測(cè)試設(shè)備架構(gòu):
設(shè)備尺寸:長*寬*高=800mm*600mm*1650mm
(備注:測(cè)試桌客戶提供)
八. 測(cè)試項(xiàng)目: