系統(tǒng)配有專用Premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測試項(xiàng)目可以同時操作使用,并按照需求制定測試工作流程,記錄下測試者每一步的測試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測試程序
標(biāo)準(zhǔn)測試程序功能 (TestFlow) 可以將電路板的故障定位工作,轉(zhuǎn)換成一個循序漸進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)程序,并降低測量的不準(zhǔn)確性并且記錄所有的測量參數(shù). 技術(shù)工程人員可以自行編寫一個標(biāo)準(zhǔn)的測試程序,或經(jīng)由TestFlow為特定的電路板設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)的量測步驟及記錄測量的結(jié)果. 工程人員也可以加入電路圖或?qū)嶋H的電路板圖片,甚至是加入一些指示來幫助檢測工作的進(jìn)行. 半熟練的工程人員只需要按步就班的依指示及圖示來操作設(shè)備,便可以完成所有的檢測工作.
電路板故障檢測儀產(chǎn)品綜述
數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ATM)
提供了1個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.
該模塊是升級產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.
模擬集成電路測試功能模塊(AICT)
在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測試.所有常見的模擬集成電路皆可以測試,系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測試庫。
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(VPS)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時具有過電壓及過載保護(hù)功能.
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能
具64個量測通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號.可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時序信號測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能
具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能
具64量測通道(64通道X1個模塊).可調(diào)整測量信號電壓范圍.針對數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測量結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能
具有24量測通道及外加二組獨(dú)立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號輸出.內(nèi)建測量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能
具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測量波形的比對功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能
具有64個信號通道可供編輯數(shù)字時序信號,每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進(jìn)行比對.
Short Locator 短路電阻測量功能
具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.
模塊介紹
ATM數(shù)字集成電路測試模塊
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試(低電阻測試)
實(shí)時顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數(shù)字時序編輯功能
未知器件型號查詢
程控電源供電
測試準(zhǔn)確-源自*的測試技術(shù)
同一器件同一時間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時序圖形顯示,具體時序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負(fù)電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達(dá)幾十種.
電路板故障檢測儀產(chǎn)品特征
中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
模擬測試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴(kuò)充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能一致.
IC型號識別:標(biāo)識不清或被擦除型號的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號識別測試.
讀寫存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格：
英國ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測試模塊
特點(diǎn):
含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個獨(dú)立測試通道
驅(qū)動輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數(shù)字集成電路的測試.
可進(jìn)行在線或離線測試與分析.
具有24路測試通道.
安全性高的無電源測量方式.
矩陣式V-I曲線測試,可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試.
在進(jìn)行離線測試時,可針對芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動對比及儲存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測試.
具有二組信號源,可輸出直流信號,針對光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中最多的信號頻率文件位,對于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動信號補(bǔ)償功能,可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試,以防止量測信號失真.
可由軟件來進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來清楚的表示量測位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.
測試參數(shù)：
| 測量通道: | 24測試通道 |
| 探筆通道: | 2通道實(shí)時對比測試 |
| 信號通道: | 2通道同步脈沖信號 |
| 測試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信號電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測試信號波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩陣測試: | 各個管腳間的VI曲線測試 |
| 波形自動對比: | 可利用實(shí)時量測雙通道來自動實(shí)時對比好壞組件的波形,或?qū)⒉ㄐ芜M(jìn)行存儲后,再進(jìn)行比對. |
| 同步脈沖輸出: | 正向(Positive),負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
| 同步信號振幅: | 可調(diào)式由+10V～ -10V |
功能強(qiáng)大的2500
含模擬器件測試庫,可以直接對模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個獨(dú)立測試通道
驅(qū)動輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
1100可調(diào)電源模塊
電源輸出可由軟件控制
可調(diào)式邏輯電壓通道
可調(diào)整2.5V至6V的電壓
最小電壓(流)調(diào)整解析:0.01V & 0.01A
可調(diào)式正電壓通道
可調(diào)整電壓:0～+24V 電流范圍:50mA～1.5A
最小電壓(流)調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
可調(diào)式負(fù)電壓通道
可調(diào)整電壓:0～-24V 電流范圍:50mA～1.5A
最小電壓(流)調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
| 數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格 | |
| 測試通道數(shù): | 64通道;可擴(kuò)展到256通道/6500可擴(kuò)充2048通道 |
| 總線隔離信號通道數(shù): | 8通道 |
| 實(shí)時比對功能: | 需有二個64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動電壓 | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
| 輸出驅(qū)動電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路(內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
| 驅(qū)動邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)(tri-state) |
| 過電壓保護(hù)范圍: | <0.5V,>5.5V |
| 最長測試時間: | 根據(jù)被測元器件而定 |
| 測試方式: | 在線及離線測試(需外接離線測試盒) |
| 測試功能及參數(shù) | 參數(shù)主要區(qū)別 |
| 集成電路功能測試 | 根據(jù)元件原理和真值表進(jìn)行功能測試 |
| 元器件連接特性測試 | 短路狀態(tài)偵測 |
| 懸浮(浮接)狀態(tài)偵測 | |
| 開路狀態(tài)偵測 | |
| 連接狀態(tài)偵測:6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍(-10~+10v),模擬仿真測試范圍更加廣泛. | |
| 電壓測量 | 最小解析10mV范圍+/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測 | |
| VI曲線測試: | 測試通道數(shù)64 256(擴(kuò)展) |
| 電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V(可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對稱電壓掃描 | |
| 測試電流 1mA | |
| 曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對于判定溫漂的故障元件非常有助 |
| 測試模式 | |
| 單次(Single): | 單次測試 |
| 循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測試,或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
| 自動掃描測試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
| 最小調(diào)整解析: | 100mV |
| 低信號位準(zhǔn): | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn): | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號位準(zhǔn): | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 測試范圍 | 多種電源數(shù)字IC |
| 后置驅(qū)動能力 | 600mA (MAX) |
| 隔離信號通道 | 8組信號(支持較大驅(qū)動電流) |
| 測量電壓范圍 | +20V~ -20V |
