SS200LW微光亮度計
SS200LM是遮光筒式微光亮度計（輝度計、全數(shù)字微光亮度計），采用 SMT32芯片、嵌入式系統(tǒng)，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定， 適用性強。該儀器測量應(yīng)急出口標(biāo)志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經(jīng)濟實用，操作簡易。 亮度探頭V（λ）修正水平達國家標(biāo)準(zhǔn)級（CLASS A），實現(xiàn)亮度的精確測量工作
鋁合金機身、154寸IPS觸摸屏、上下線設(shè)置、分選測試、光度 變化曲線（PC軟件）、16位100KS/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、最大亮度、最小亮度、透射比
SS200LW微光亮度計 參數(shù)：
型號 | SS200LW |
光譜響應(yīng) | Λ380-780nm |
測試功能 | 亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2) |
傳感器 | 硅光器件 |
測量范圍 | 5mcd/m2-10000cd/m2 |
分辨率 | 1m cd/m2 |
V(λ)失配誤差 | f1'≤3.5%（標(biāo)準(zhǔn)級 standard class）or f1'≤5%（一級 class 1） |
余弦修正特性 | f2'≤2%（標(biāo)準(zhǔn)級）or f2'≤4%（一級 ） |
感光面積 | Φ8mm（customized according to needs） |
測試范圍 | ±4%（according to JJG245-2005）or ±1%（according to JJG245-2005） |
測量誤差 | 測量最大允許誤差：一級(±4%讀數(shù)±1個讀數(shù)）國家I級 |
光學(xué)測量準(zhǔn)確度 | 探測器余弦修正V(λ)修正水平，達到國家I級照度計要求； |
顯示方式 | 1.54IPS 觸摸屏 |
通訊 | Type-C 接口 藍牙 |
用戶校正功能 | 修正系數(shù)功能、校零、定標(biāo) |
外形尺寸 | 50mm*50mm*60mm |
使用環(huán)境 | 溫度：18℃～30℃ 濕度：35%RH～75%RH |
量程 | 自動量程 |
電池容量 | 1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時左右 |
重量 | 135g |
顯示刷新率 | 10次／秒； |
采樣 | 16位100KS/s 高速AD |
