簡介

低對比度正弦西門子星非常適合分析紋理損失，即低對比度時精細細節(jié)的損失。成像系統(tǒng)中的紋理損失是由降噪和其他圖像處理技術(shù)引起的。

低對比度西門子之星采用的方法建立了用于紋理分析的將來的ISO標準195767-1。圖像工程公司的圖像分析軟件iQ-Analyzer的分辨率模塊包括一個新的TE280圖表，以支持西門子恒星分析。使用低對比度（調(diào)制度為18％）的西門子星，您可以享受正弦西門子星的優(yōu)勢。除了有限的分辨率（MTF10）和清晰度以外，使用iQ-Analyzer進行分析的結(jié)果還提供了完整的MTF。TE276是用于紋理分析的最終解決方案，它包括枯葉結(jié)構(gòu)和對齊和線性化所需的外圍標記。Image Engineering在各種出版物中表明，其方法目前是解決紋理損失的解決方案。TE42多功能測試圖中使用了相同的枯葉結(jié)構(gòu)和低對比度西門子星，以進行圖像質(zhì)量測量。

主要紋理分析圖

*單擊圖卡編號以在Image Engineering網(wǎng)站上顯示信息。

*下列圖卡可以使用圖像分析軟件iQ-Analyzer進行分析。

?TE276：枯葉

?TE280：紋理損失測試圖