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EDX-7000/8000 能量色散型X射線熒光分析裝置 |
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X射線熒光分析法的原理·特點 |
X射線熒光的產(chǎn)生原理
X射線管發(fā)出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長（能量）。因此，通過檢測X射線的波長就能夠進行定性分析。另外，熒光X射線的強度與濃度具有函數(shù)關系，檢測每個元素X射線特征波長的X射線量就能進行定量分析。 |
圖為用波爾模型說明電子軌道和熒光X射線產(chǎn)生的原理 | |
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| 滿足所有領域不同的應用 |
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■ 電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
■ 汽車·機械
· 應對ELV指令的篩選分析
· 各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測
■ 鋼鐵·非金屬
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析
■ 礦業(yè)
· 選礦工藝的成色鑒別分析
■ 窯業(yè)
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析
■ 石油·石油化學
· 油中硫元素的分析
· 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析 | ■ 化學工業(yè)
·無機·有機原料和產(chǎn)品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析
■ 環(huán)境
· 土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析
■ 醫(yī)藥
· 合成時的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析
■ 農(nóng)業(yè)·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析
■ 其它
· 考古學樣品及寶石成分分析
· 玩具·日用品中有害重金屬元素測定等 | |
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具有設計感的外觀 |
460mm寬的緊湊身材，配備大容量的樣品室
460mm寬的緊湊身材，與我公司以往機型相比尺寸減少20%。 而緊湊的機身，卻擁有可放置200(W)×275(D)×約100(H)mm樣品的大型樣品室。 |
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識別度高的LED顯示燈
產(chǎn)生X射線時，分析儀器后面的X射線顯示燈和前面的X-RAYS ON顯示燈將會點亮。分析時X射線顯示燈的兩側(cè)亮起藍燈。操作人員不在分析現(xiàn)場也可對分析儀器的狀態(tài)一目了然。 | | |
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| “初次見面”也可輕松上手的軟件PCEDX Navi |
為了使X射線熒光分析貼近每一個實驗室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應運而生。
憑直覺操作的淺顯簡單畫面，使從初學者到專家的每一位用戶都可以體驗到便捷的操作環(huán)境。 | | |
簡潔的界面
在一個界面內(nèi)可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
在測定界面上可以直接切換準直器
可以一邊觀察樣品圖像，一邊切換準直器直徑。 同時，選定的直徑用黃色圓圈表示。
自動保存樣品圖像
測定開始時自動讀取樣品圖像，與數(shù)據(jù)文件夾關聯(lián)保存。 |
| | | 測定結束后，與樣品畫面一起，元素名、濃度、3δ(測定的標準偏差)均會在同一界面清楚顯示。輕松點擊鼠標，即可看到《分析結果一覽》或《報告》。 | | |
使用轉(zhuǎn)臺時的測定準備畫面(樣品位置確認時)
| 同樣適用于連續(xù)分析
PCEDX Navi同樣可應對使用轉(zhuǎn)臺（選購件）的分析。 可以輕松切換樣品圖像確認界面和樣品位置確認界面。 | |
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的分析性能 |
采用高性能的SDD檢測器，確保硬件化，具有的高靈敏度·高速分析和高分辨率?？梢詸z測出6C～的機型正式上線(EDX-8000)。
高靈敏度 –提高檢測下限1.5～5倍
高性能的SDD檢測器與化的光學系統(tǒng)和一次濾光片的組合，實現(xiàn)的高靈敏度。
從輕元素到重元素，全范圍輕松應對。與采用傳統(tǒng)Si(Li)半導體檢測器的分析裝置相比，靈敏度也更勝。 |
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高速 –分析速度可提高10倍
SDD檢測器在單位時間內(nèi)X射線熒光的計數(shù)率高，因此能夠在更短的檢測時間內(nèi)進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析，這個特點可以得到限度的發(fā)揮。 |
測定時間與標準偏差(定量值偏差)的關系 | 實際樣品的比較
分別用以往型號和EDX-7000/8000對無鉛焊錫中所含的鉛(Pb)進行分析，比較重現(xiàn)性。 | |
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X射線熒光分析可以通過延長測定時間增加X射線熒光的計數(shù)從而提高精度(重現(xiàn)性)。
搭載高計數(shù)率SDD檢測器的EDX-7000/8000與以往型號相比，能夠在更短的時間內(nèi)保證分析精度。 |
滿足分析精度所需的檢測時間 | |
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高分辨率
與配置以往Si(Li)半導體檢測器的型號相比，能量分辨率更勝。 不同元素峰值重疊的影響減小，提升可靠性。 |
能量分辨率的比較(樣品：PPS樹脂) | |
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無需液氮
SDD檢測器為電子制冷方式，無需液氮冷卻。不僅可以從繁瑣的液氮補充作業(yè)中解放出來，更可以降低儀器的維護成本。
檢測元素范圍 |
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· 用EDX-7000進行15P以下的輕元素分析時，需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元(均為選購件)。
· 用EDX-8000進行15P以下的輕元素分析時，需要真空檢測單元(選購件)。 |
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EDX-8000進行超輕元素分析
EDX-8000搭載的SDD檢測器窗口采用極薄的薄膜特殊材料，能夠檢測碳(C)、氧(O)、氟(F)超輕元素。 |
用EDX-8000檢測氟元素的分析結果 | |
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的通用性 |
從微小樣品到大型樣品，從粉末樣品到液體樣品，靈活應對各類樣品。
配備進行輕元素的高靈敏度分析時所需的真空檢測單元、氦氣置換檢測單元，以及可實現(xiàn)自動連續(xù)測定的12位樣品轉(zhuǎn)臺(選購件)。
4種準直器以及CCD樣品觀察裝置 |
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1、3、5、10mmΦ的4種準直器自動切換
根據(jù)樣品尺寸的不同，照射直徑可有4種不同的選擇。
微小異物分析和失效解析時采用1mmΦ，少量樣品時采用3mmΦ或5mmΦ，根據(jù)樣品的形狀可以選擇的照射直徑。 |
選擇1mmΦ準直器 | 標配CCD樣品觀察裝置
通過樣品觀察裝置可以確認X射線的照射位置。 適用于檢測微小樣品、檢測由多個測樣點組成的樣品、使用微量樣品容器檢測等情況 |
選擇5mmΦ準直器時， 使用微量樣品容器 | |
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自動切換5種一次濾光片
使用一次濾光片降低X射線管產(chǎn)生的特性X射線和連續(xù)X射線，從而提升檢測靈敏度。
尤其分析微量元素時有效。 EDX-7000/8000搭載5種(含OPEN共6種)一次濾光片，可以實現(xiàn)軟件操控自動切換。 |
| 濾光片 | 有效能量(KeV) | 對應元素示例 | | #1 | 15～24 | Zr, Mo, Ru, Rh, Cd | | #2 | 2～5 | Cl, Cr | | #3 | 5～7 | Cr | | #4 | 5～13 | Hg, Pb, Br | | #5 | 21～24(5～13)* | Cd (Hg, Pb, Br) | |
| *使用濾光片后，( )中能量范圍的背景降低。 |
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準直器和一次濾光片自由組合
準直器和一次濾光片獨立驅(qū)動，無限制自由組合。可以選擇6種×4種=24種組合。
同時，所有組合均可對應FP法進行定量分析。 |
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FDA 21CFR Part11應對系統(tǒng) |
| 樣品無損且無需前處理，通過X射線熒光，即可簡單輕松實現(xiàn)對醫(yī)藥品中雜質(zhì)的管理 |
● 分析只需4 Step！
● 遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準
● 以提升效率為目標，使用LabSolutions CS進行數(shù)據(jù)管理
● 通過X射線熒光可以實現(xiàn)對雜質(zhì)的分析 | | |
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| 分析只需4 Step！ |
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主要特長
遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準
遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。
● 安全功能
● 用戶管理功能
● 操作日志，逐位跟蹤日志的生成功能
● PDF生成功能
● 驗證功能
安全功能
通過ID/密碼進行用戶認證，對具有權限的用戶 開放操作履歷記錄、界面鎖定等功能。
逐位跟蹤日志的生成功能
可以生成分析裝置設定更改履歷和用戶的操作履歷等跟蹤日志。
以提升效率為目標，使用LabSolutions CS進行數(shù)據(jù)管理
包括其它分析裝置的的全部分析數(shù)據(jù)都可以通過服務器電腦的數(shù)據(jù)庫進行管理，因此聯(lián)網(wǎng)后任何電腦都可讀取數(shù)據(jù)。不論何處都可實現(xiàn)數(shù)據(jù)管理統(tǒng)合化。 |
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| 使用EDX-7000/8000，輕松實現(xiàn)對醫(yī)藥品中的金屬進行分析 |
如圖所示，制成添加了Pt的纖維素粉末標準樣品，在0～20ppm的范圍內(nèi)形成6點工作曲線。樣品量僅為100mg，平均1樣品測定20分鐘，就可如下表得到良好的標準偏差(RMS)和直線性，從而實現(xiàn)高正確度的分析。 | 元素 | 濃度範囲(ppm) | RMS(ppm) | 相関係數(shù) | | Pt | 0-20 | 0.25 | 0.9993 | | | |
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纖維素粉末100mg中Pt工作曲線
可明顯檢測出約30ppm的Pt峰。
另外還檢測出約5ppm微量混入的As。 |
混入Pt和As的纖維素粉末樣品的EDX光譜 | |
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裝置規(guī)格 |
| 型號規(guī)格 | EDX-7000 | EDX-8000 | | 測定原理 | X射線熒光分析法 | | 測定方法 | 能量色散型 | | 測定對象 | 固體、液體、粉末 | | 測定范圍 | 11Na~92U | 6C~92U | | 樣品室尺寸 | 300(W)x275(D)x約100(H)mm(但是不包括R部分) | | 樣品重量 | 5kg(使用樣品轉(zhuǎn)臺時200g/樣品，總重量2.4kg) | | X射線發(fā)生部 | | X射線管 | Rh靶 | | 電壓 | 4~50kV | | 電流 | 1~1000uA | | 冷卻方式 | 風冷(附風扇) | | 照射面積 | 1、3、5、10mmΦ：4種自動切換 | | 1次濾光片 | 5種(含OPEN為6種)自動切換 | | 檢測器 | | 類型 | 硅漂移檢測器(SDD) | | 液態(tài)氟供給 | 不要(電子制冷) | | 樣品室 | | 測定環(huán)境 | 大氣、真空*1、氦氣*2 | | 樣品交換 | 12位樣品轉(zhuǎn)臺*1 | | 樣品觀察 | CMOS圖像裝置 | | 數(shù)據(jù)處理部 | | 內(nèi)存 | 2GB以上(32位)、4GB以上(64位) | | HDD | 250GB | | 光學驅(qū)動 | 多媒體光驅(qū) | | OS | Windows 7 (32位/64位) | | 軟件 | | 定性分析 | 測定、解析軟件 | | 定量分析 | 工作曲線法、共存元素校正
FP法、薄膜FP法、背景FP法 | | 匹配軟件 | 強度/含量 | | 更多功能 | 自動校正功能(能量校正、半高寬校正) | | 儀器狀態(tài)跟蹤功能 | √ | | 分析結果制表功能 | √ | | 環(huán)境設置 | | 溫度 | 10~30℃(溫度變化2℃/hr以內(nèi)、溫度變化幅度在10℃以下) | | 相對濕度 | 40~70%(但不得有結露) | | 電源 | AC100V~240V±10%、帶地線插座 | | 主機尺寸 | 460(W)x590(D)x360(H)mm | | 主機重量 | 約45kg | |
*1 為通用的選購件。
*2 為EDX-7000的選購件。 |
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