- AT3810A采用真彩TFT-LCD顯示，全中文操作界面(可配置成英文界面)。采用大字體顯示，讀數(shù)更加直觀,用于實驗室質量控制，進料檢驗以及元器件分選，ATAT3810A為10Hz～20kHz連續(xù)頻點，分辨率為0.001Hz。測試信號電平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步進），相對于AT28系列增加了DCR測量以及內部直流偏壓(DC BIAS, ±2.5V)
ATAT3810A可同時對元件的4參數(shù)進行測試，每種參數(shù)都可任意配置，全新改進后的儀器，實現(xiàn)主副四參數(shù)全6位顯示，可掃描10種頻率或電平列表，還可對3組用戶頻率進行校正，提高準確度。內置比較器，通過HANDLER接口結合PLC完成元器件的自動分選。
- 儀器標配RS232、RS485和USB接口，支持SCPI協(xié)議和Modbus 協(xié)議，同時可以選配GPIB接口。
- 真彩16M色，TFT-LCD顯示。
- 儲存999個LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲，自動準位控制 (ALC)
- 校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零,三組用戶點頻校準。
- 多頻測試：支持10個頻率掃描測試
- 多電平測試：支持10個電平掃描測試
- 10組文件管理，可存儲儀器狀態(tài),列表掃描設置和比較器設置。
- 增強型比較器（分選）功能：可編程的P1~P9 九檔分選，主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出，NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
- 優(yōu)良偏差（ABS）比較方式、相對偏差（PER）和順序（SEQ）比較方式。
- 可開關的附屬檔（AUX）分選。
- 可編程1～200次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
- 自定義分選結果訊響。
- 內置RS232C接口和Handler接口。
- 1000V沖擊保護
特征
規(guī)格
| 測量參數(shù) | Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR |
| 基本準確度 | 慢速/中速：0.05%；快速：0.1% |
| 測試頻率 | 10Hz～20kHz（分辨率 0.001Hz） |
| 測試量程 | 自動、手動和標稱量程，9量程 |
| 測試速度 | 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
| 顯示范圍 | L: 0.00001μH-9999.99H C: 0.00001pF – 9999.99μF R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ D, 0.00001 – 9.99999 Q: 0.00001 – 99999.9 Δ%: -999999% - 999999% θ(deg): -179.999° -179.999° θ(rad):-3.14159 – 3.14159 DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ |
| 輸出阻抗 | 30Ω，50Ω 和100Ω |
| 監(jiān)視參數(shù) | Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ% |
| 讀數(shù) | 所有參數(shù)全6位：999999 |
| 等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
| 信號電平 | 10.00mV~2.00V AC (支持恒電平) 100.0μA~20.00mA AC (支持恒電平) |
| 直流偏置 | -2.5V~+2.5V (0.5%+0.005V) |
| 平均次數(shù) | 1~256 |
| 觸發(fā)方式 | 內部、手動、外部和遠程 |
| 觸發(fā)延時 | 0.01ms~60s |
| 比較器 | 14檔分選，10組合格檔，1組不合格檔， 1組副參數(shù)不合格檔 檔計數(shù)功能：檔計數(shù)999999 |
| 列表掃描 | 10步（頻率、電壓和電流） |
| 比較方式 | 順序/優(yōu)良偏差/相對偏差 |
| 校準 | 開路清零、短路清零（掃頻和點頻) |
| 文件 | 內部存儲10個文件 外部USB存儲10個文件 |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 9999 組文件（.csv) |
| 訊響功能 | 關/合格/不合格 |
| 接口 | RS232/RS485/USB/HANDLER/GPIB(可選) |
| 通訊協(xié)議 | SCPI/Modbus |
| 其它功能 | 自動LCZ |
| 電源要求 | AC 100V-240V, 50Hz-60Hz 20W MAX |
| 尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) 3kg,凈重 |
應用
- 基礎元件和材料測量：電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實驗室質量控制，進料檢驗以及元器件分選
