- AT810D采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810D僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏儀器的技術(shù)，使其性能亦無可挑剔。
內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V和1V測(cè)試電平，使其能滿足一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
- 分選機(jī)專用版本
- 高亮度，超清晰四色VFD顯示。
- 校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零。
- 第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。
特征
規(guī)格
| 測(cè)量參數(shù) | Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg |
| 基本準(zhǔn)確度 | 0.2% |
| 測(cè)試頻率 | 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz |
| 測(cè)試量程 | 自動(dòng)、手動(dòng)量程，6量程 |
| 測(cè)試速度 | 2 次 / 秒，5 次 / 秒 |
| 顯示范圍 | L: 0.01μH-9999H C: 0.01pF-9999μF R,Z:0.0001Ω-99.99MΩ Δ%: -9999% - 9999% D: 0.0001 - 9.9999 Q:0.0001 - 9999 R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ D, 0.00001 – 9.99999 Q: 0.00001 – 99999.9 Δ%: -999999% - 999999% θ(deg): -179.999° -179.999° θ(rad):-3.14159 – 3.14159 DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ |
| 輸出阻抗 | 30Ω、100Ω |
| 監(jiān)視參數(shù) | Z, D, Q, Δ, Δ% |
| 讀數(shù) | 所有參數(shù)全5位：99999 |
| 等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
| 信號(hào)電平 | 0.1Vrms, 0.3Vrms 和 1Vrms |
| 觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動(dòng)、外部和遠(yuǎn)程 |
| 比較器 | 5 檔分選 P1,P2,P3,AUX,NG |
| 比較方式 | SEQ/ABS/PER |
| 校準(zhǔn) | 開路清零、短路清零 |
| 訊響功能 | 關(guān)/P1/P2/P3/AUX/NG |
| 接口 | RS232/HANDLER |
| 通訊協(xié)議 | SCPI |
| 電源要求 | AC 198V-240V, 50Hz-60Hz 15W MAX |
| 尺寸與重量 | 264 (寬)x107(高)x350 (深) 4kg,凈重 |
應(yīng)用
- 基礎(chǔ)元件和材料測(cè)量：電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
分選機(jī)專用版本
