產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 電流范圍：0-50mA / 500mA / 2A / 10A
■ 電壓范圍：0-6V
■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內(nèi)阻)等參數(shù)測(cè)試
■ 采樣&通訊傳輸間隔高達(dá)1ms，真實(shí)還原測(cè)試過程數(shù)據(jù)
■ 充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，無過充過放
■ 功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能
■ 每通道對(duì)應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便
■ 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析功能
■ 百兆以太網(wǎng)通訊
功能與優(yōu)勢(shì)
容量測(cè)量
等效串聯(lián)內(nèi)阻(DCIR)測(cè)試
N8130具有豐富的直流內(nèi)阻測(cè)量功能，支持業(yè)內(nèi)多種主流DCIR測(cè)試方法：多脈沖法、單脈沖法、充轉(zhuǎn)放法、六步測(cè)試法、IEC測(cè)試法，可滿足絕大部分用戶測(cè)試需求。NGI核心測(cè)試技術(shù)確保在各種測(cè)試方法中獲取高精度內(nèi)阻測(cè)量結(jié)果。 QC/T 741法直流等效內(nèi)阻計(jì)算公式：
壽命測(cè)試
N8130可通過重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電過程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。
四線制測(cè)量功能 超級(jí)電容測(cè)試過程中需要輸出較大電流，測(cè)試線將會(huì)引入較大電壓降（線損），影響測(cè)量精度。N8130全系列型號(hào)均采用四線制接線方式，直接采集超級(jí)電容兩端電壓而避免因測(cè)試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測(cè)量精度。
測(cè)試夾(治)具
考慮到不同規(guī)模的測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景，NGI提供兩種測(cè)試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測(cè)試夾（治）具均為四線制接法。
測(cè)試軟件
(1) N8130測(cè)試軟件采用平臺(tái)化設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測(cè)試流程。
(2) 類Office界面風(fēng)格，各通道獨(dú)立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強(qiáng)大測(cè)試功能同時(shí)，兼具美觀易用優(yōu)點(diǎn)。
(3) 設(shè)計(jì)有功率限制電路，反應(yīng)時(shí)間極短，可有效保護(hù)負(fù)載不會(huì)因?yàn)檫^功率而損壞。
(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對(duì)惡劣測(cè)試環(huán)境具有廣泛適應(yīng)性，有效提高了負(fù)載抗力。
應(yīng)用領(lǐng)域
■ 超級(jí)電容器研發(fā)、生產(chǎn)、品質(zhì)檢測(cè)
■ 超級(jí)電容材料研究
■ 超級(jí)電容相關(guān)其它應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品尺寸
■ 電流范圍：0-50mA / 500mA / 2A / 10A
■ 電壓范圍：0-6V
■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內(nèi)阻)等參數(shù)測(cè)試
■ 采樣&通訊傳輸間隔高達(dá)1ms，真實(shí)還原測(cè)試過程數(shù)據(jù)
■ 充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，無過充過放
■ 功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能
■ 每通道對(duì)應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便
■ 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析功能
■ 百兆以太網(wǎng)通訊
功能與優(yōu)勢(shì)
容量測(cè)量
等效串聯(lián)內(nèi)阻(DCIR)測(cè)試
N8130具有豐富的直流內(nèi)阻測(cè)量功能，支持業(yè)內(nèi)多種主流DCIR測(cè)試方法：多脈沖法、單脈沖法、充轉(zhuǎn)放法、六步測(cè)試法、IEC測(cè)試法，可滿足絕大部分用戶測(cè)試需求。NGI核心測(cè)試技術(shù)確保在各種測(cè)試方法中獲取高精度內(nèi)阻測(cè)量結(jié)果。 QC/T 741法直流等效內(nèi)阻計(jì)算公式：
N8130可通過重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電過程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。
測(cè)試夾(治)具
考慮到不同規(guī)模的測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景，NGI提供兩種測(cè)試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測(cè)試夾（治）具均為四線制接法。
(1) N8130測(cè)試軟件采用平臺(tái)化設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測(cè)試流程。
(2) 類Office界面風(fēng)格，各通道獨(dú)立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結(jié)果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強(qiáng)大測(cè)試功能同時(shí)，兼具美觀易用優(yōu)點(diǎn)。
(3) 設(shè)計(jì)有功率限制電路，反應(yīng)時(shí)間極短，可有效保護(hù)負(fù)載不會(huì)因?yàn)檫^功率而損壞。
(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對(duì)惡劣測(cè)試環(huán)境具有廣泛適應(yīng)性，有效提高了負(fù)載抗力。
應(yīng)用領(lǐng)域
■ 超級(jí)電容器研發(fā)、生產(chǎn)、品質(zhì)檢測(cè)
■ 超級(jí)電容材料研究
■ 超級(jí)電容相關(guān)其它應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品尺寸
