■ 電流范圍:0-50mA / 500mA / 2A / 10A
■ 電壓范圍:0-6V
■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量,放電容量、DCIR(直流等效內阻)等參數測試
■ 采樣&通訊傳輸間隔高達1ms,真實還原測試過程數據
■ 充轉放過程無縫切換,無過充過放
■ 功能豐富的上位軟件,支持生產分選功能
■ 每通道對應狀態(tài)指示燈,分選更方便
■ 強大的數據存儲與分析功能
■ 百兆以太網通訊
功能與優(yōu)勢
容量測量
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等效串聯內阻(DCIR)測試
N8130具有豐富的直流內阻測量功能,支持業(yè)內多種主流DCIR測試方法:多脈沖法、單脈沖法、充轉放法、六步測試法、IEC測試法,可滿足絕大部分用戶測試需求。NGI核心測試技術確保在各種測試方法中獲取高精度內阻測量結果。 QC/T 741法直流等效內阻計算公式:
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N8130可通過重復充放電循環(huán)測試,測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線。通過分析參數衰減曲線,用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。
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測試夾(治)具
考慮到不同規(guī)模的測試應用場景,NGI提供兩種測試夾(治)具供用戶選擇:開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾(治)具均為四線制接法。
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(1) N8130測試軟件采用平臺化設計,用戶可根據工藝需求自行定制測試流程。
(2) 類Office界面風格,各通道獨立顯示,支持電壓電流波形繪制,可以表格形式顯示結果等諸多元素,使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試功能同時,兼具美觀易用優(yōu)點。
(3) 設計有功率限制電路,反應時間極短,可有效保護負載不會因為過功率而損壞。
(4) 采用全屏蔽技術,對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性,有效提高了負載抗力。
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應用領域
■ 超級電容器研發(fā)、生產、品質檢測
■ 超級電容材料研究
■ 超級電容相關其它應用領域
產品尺寸
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