描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能，幫助他們進行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果?；咀杩咕仁?+/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
材料評估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測量
借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。
溫度特性評估
溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。
主要特性與技術(shù)指標
基本精度
- 基本精度 +/-0.8%
掃描參數(shù)
- 頻率：1 MHz 至 3 GHz
- 振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
- DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
- Windows 風格的用戶界面
- 內(nèi)置 VBA 編程功能
- 通過 LAN 接口進行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測量選件
- 介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）
- 可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）
- 溫度特性測量（選件 E4991A-007）
