韓國(guó)Micro Pioneer XRF系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,不單性能*,而且價(jià)錢(qián).只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).