LED芯片測(cè)試 10度溫度快速變化試驗(yàn)箱是航天、航空、儀器儀表、電工、電子、材料等領(lǐng)域*的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。主要用于測(cè)試整機(jī)、零部件等產(chǎn)品在快速溫度變化條件下的適應(yīng)性，以及在溫度快速變化時(shí)，產(chǎn)品是否能正常工作和滿足使用要求。
本產(chǎn)品的原理是用制冷劑排出快速變溫試驗(yàn)箱中的熱氣，然后保持較低的室內(nèi)溫度。當(dāng)室外溫度過高時(shí)，散熱器的散熱效率不會(huì)過高，試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度會(huì)升高。如果未達(dá)到所需溫度，試驗(yàn)箱將繼續(xù)工作，直到達(dá)到預(yù)定溫度。這樣，在低溫下可在1小時(shí)內(nèi)達(dá)到溫度，但在高溫下有時(shí)需要2~3小時(shí)的連續(xù)作用。因此，功耗將顯著增加。LED芯片測(cè)試 10度溫度快速變化試驗(yàn)箱
參數(shù)規(guī)格：
| 規(guī)格 | 225 | 306 | 408 | 800 | 1000 | |
| 溫度范圍 | -70 ~150℃ | |||||
| 快溫變范圍 | -55℃～125℃ | |||||
| 濕度范圍 |  | |||||
| 升降溫速率 | 3℃～15℃/分鐘線性降溫或非線性平均（可任意設(shè)定.） 非線性時(shí)*大可達(dá)25℃/分鐘,若需特殊規(guī)格請(qǐng)洽詢本公司. | |||||
| 高低溫駐留時(shí)間 | 30分鐘 | |||||
| 靜態(tài)試驗(yàn)負(fù)載 | 8㎏內(nèi)朔膠件 | 15㎏內(nèi)朔膠件 | 20㎏內(nèi)朔膠件 | 25㎏內(nèi)朔膠件 | 30㎏內(nèi)朔膠件 | |
| 降溫方式 | 壓縮機(jī)降溫. | |||||
| 控制穩(wěn)定度 | ±0.5℃,±2% | |||||
| 分布均勻度 | ±1℃,±2% | |||||
| 溫.濕度偏差 | ≤±2℃/±3%RH | |||||
| 升降溫斜率波動(dòng) | ±3℃ | |||||
內(nèi)尺寸 (CM) | H | 75 | 85 | 85 | 100 | 100 |
| W | 50 | 60 | 60 | 100 | 100 | |
| D | 60 | 60 | 80 | 80 | 100 | |
外尺寸 (CM) | H | 193 | 203 | 203 | 228 | 228 |
| W | 100 | 120 | 110 | 150 | 150 | |
| D | 175 | 195 | 205 | 225 | 255 | |
| **保護(hù)裝置 | 無熔絲過載探保護(hù),壓縮機(jī)過熱, 過流, 超壓, 加熱干燒, 箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng). | |||||
| 詳細(xì)規(guī)格以相應(yīng)規(guī)格書為準(zhǔn) | ||||||
滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
4.GB2423.1-89低溫試驗(yàn)Aa，Ab ；
5.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗(yàn)Ca；
6.MIL-STD810D方法502.2；
7.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
8.GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn)；
9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。
10.IEC68-2-1 試驗(yàn)A
11.IEC68-2-2 試驗(yàn)B 高低溫交變
12.IEC68-2-14 試驗(yàn)N
