Nanonics近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)參數(shù) 1 近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)操作模式: 透射模式,反射模式,收集模式,照明模式 | ||
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主要特點(diǎn) 1、支持探針+樣品掃描,這對(duì)于波導(dǎo)材料&光子結(jié)構(gòu)的收集模式NSOM和拉曼增強(qiáng)都有極大的幫助; | ||
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近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡(NSOM)也習(xí)慣稱為掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM),是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長(zhǎng)分辨率的手段。通常近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結(jié)合使用,因此近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡可以獲得材料光學(xué)與形貌相關(guān)的信息。近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡通??梢垣@得以下信息: |