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高分辨率雙晶X射線衍射儀

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  • 型號
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新時間2022-10-02
  • 廠商性質其他
  • 入駐年限1
  • 產品數量17
  • 人氣值237
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各個行業(yè)和組織的科學家和工程師將 Malvern Panalytical 的技術用來解決一系列難題,如地提高生產率、開發(fā)更高質量的產品及幫助產品更快速地上市。 我們的重中之重是通過對材料進行化學、物理和結構分析,打造出客戶導向型創(chuàng)新解決方案和服務,從而提高效率和產生切實的經濟影響。 憑借廣泛的行業(yè)知識和技術及應用專業(yè)技術,Malvern Panalytical 儀器旨在幫助用戶更好地了解各種各樣的材料,從蛋白質和聚合物、顆粒和納米顆粒懸浮液和乳狀液,再到噴霧劑和氣霧劑、工業(yè)散裝粉末、礦物和高濃度漿類樣品及固體,例如金屬和建筑材料、塑料和聚合物。 使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta 電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、流變性、元素濃度、晶體結構等參數。 這些特性的高可靠性和耐用性對于預測產品在使用過程中的表現、優(yōu)化其性能,從而實現制造至關重要。Malvern Instruments Limited 和 PANalytical B.V. 宣布合并,新公司名為 Malvern Panalytical,總部位于阿爾默洛(荷蘭)和馬爾文(英國),擁有 2,000 多名員工。 合并后的公司將成為材料表征市場上強有力的競爭者和創(chuàng)新者,并且將充分利用兩家公司各自在建筑材料、制藥、金屬、礦業(yè)及納米材料等終端市場中的優(yōu)勢。 遍布的應用實驗室以及受強大分銷商網絡支持的銷售和服務網絡將確保提供的客戶支持水平。Malvern Panalytical 隸屬于制造提高生產率的儀器和控制設備的思百吉集團。
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帕納科高分辨率x射線衍射儀:高級材料科學和納米技術,半導體材料研究和生產質量控制,可以適用各種應用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應力和織構分析, X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高級工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。
高分辨率雙晶X射線衍射儀 產品詳情
品牌PANALYTICAL/帕納科

帕納科高分辨率x射線衍射儀儀器簡介:

X'Pert PRO MRD/XL是高級半導體材料的標準裝備,用于: 高級材料科學和納米技術,半導體材料研究和生產質量控制,可以適用各種應用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應力和織構分析, X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高級工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析,并有精密的自動晶片裝載選擇;XL成為薄膜生產發(fā)展的*的分析手段,LED的業(yè)界標準。

帕納科高分辨率x射線衍射儀可以適用各種應用,尤其適合薄膜分析,例如:

· 振動曲線分析和交互空間圖
· 反射儀和薄膜相分析
· 殘余應力和織構分析

帕納科高分辨率x射線衍射儀同已經證明的標準版本系統(tǒng)一樣,還有許多專門的版本:

· X'Pert PRO MRD平面衍射系統(tǒng),可以測量與樣品表面垂直的晶格衍射
· X'Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器,增強入射光束的強度。
· X'Pert PRO MRD XL 滿足半導體,薄膜和高級工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

帕納科高分辨率x射線衍射儀技術參數:
1,功率:3kW
2,測角儀重現性:0.0001度
3,測角儀類型:T-2T
4,五維樣品臺

關鍵詞:標準
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