技術(shù)參數(shù):
頻率范圍:1G~20GHz
同軸共振腔:
介電常數(shù)Epsilon:1~15,準(zhǔn)確度:+/-1%,
介電損耗tangent delta:0.05~0.0001,準(zhǔn)確度:+/-5%
主要特點:
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。
印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。
日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設(shè)計空洞共振腔測試裝置 , 只需裁成小長條狀即可量測精確的復(fù)介電常數(shù)(Dk), 尤其是低損耗(Df)的樣品, 測量值非常精準(zhǔn)。
用于介電常數(shù)測試儀,介電常數(shù)分析,介電損耗測試,高頻介電常數(shù)測量。