LJD-C型介電常數(shù)介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術：
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
LJD-C型介電常數(shù)測試儀概述：
LJD-C型介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術：
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。
介電常數(shù)介質損耗測試儀主要技術特性：
Q 值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)
工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)
電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個字
介電常數(shù)介質損耗測試儀夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率：0.001mm
配置：
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
