輝光放電光譜儀GD-Profiler詳細(xì)介紹
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問題，即使是復(fù)雜的基體，提供高分別率和元素數(shù)量。60種元素（包括氣體元素）可以同時分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經(jīng)驗。 它可以讓你快速得到深度方向關(guān)于C，N，O和其他元素的信息，從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過程。在冶金工業(yè)中，化學(xué)成份的分析是對力學(xué)試驗的補(bǔ)充。其應(yīng)用尤其適合于汽車，齒輪，風(fēng)車等行業(yè)。

輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點
●RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置，可進(jìn)行元素總量分析，分析時間約為90秒，分析速度比其他表面分析技術(shù)快上100倍；濺射率一般為3µm/min；
●實現(xiàn)從1nm至深達(dá)150µm的元素深度分布分析；
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ；
●一次激發(fā)可以同時分析所有元素（包括H, O, Cl等） ；
●脈沖射頻設(shè)計的光源為導(dǎo)體、非導(dǎo)體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類型的物質(zhì)提供了廣>的分析應(yīng)用前景；
●多道(同時)型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外；
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本；
●的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，即能實現(xiàn)n+1通道分析；
●HDD 檢測器可進(jìn)行>速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達(dá)到10個量級；
●寬大的樣品室方便各類樣品的加載；
●激光指點器(CenterLite laser pointer，申請中)可用于精確加載樣品。