布魯克公司屢獲殊榮的 MATRIX 系列傅立葉紅外和傅立葉近紅外過程控制光譜儀，可直接在過程反應(yīng)釜或管道內(nèi)測量，從而更好的理解和控制生產(chǎn)過程。
提供快速準確的在線結(jié)果
多組分同時分析
綠色無損分析
內(nèi)置式6通道多路器
模型直接傳遞
堅固的設(shè)計
以太網(wǎng)連接和支持工業(yè)標準通信協(xié)議
實時關(guān)注生產(chǎn)過程
傅立葉近紅外分析技術(shù)的實時在線監(jiān)控的優(yōu)勢已。然而，傳統(tǒng)的光譜儀只能安裝在靠近監(jiān)控生產(chǎn)線的地方，這意味著將分析操作人員暴露在高溫高濕、噪音、粉塵等惡劣環(huán)境中。而且，測量點有時很難接近，甚至是防爆等危險區(qū)。
通過利用光纖技術(shù)，MATRIX-F 主機可與實測點相距數(shù)百米，將探頭直接安裝在采樣點，大大簡化了工業(yè)現(xiàn)場測試的難度。此外，當環(huán)境特別惡劣時可將主機置于帶空調(diào)的工業(yè)小屋內(nèi)，這樣可以消除溫度影響，進一步優(yōu)化光譜儀的性能，還可以保護 MATRIX-F，防止其遭受過度污垢和灰塵。
效用
MATRIX-F 是目前的只用一臺儀器就可對物料進行接觸式測量和非接觸式測量的光譜儀。有不同的測量附件可供使用：
光纖探頭：可根據(jù)需要配置漫反射、透反射或不同光程長度的液體透射探頭，以及流通池或其他試驗性裝置。還可根據(jù)物料性質(zhì)選擇配置不同材質(zhì)的探頭，如不銹鋼、哈氏合金或陶瓷
非接觸式測量的發(fā)射探頭：非接觸式發(fā)射探頭內(nèi)置鎢燈光源，可以直接照射樣本，并將收集的散射漫反射光通過光纖傳輸至光譜儀。通過這種方式，可以進行遠程非接觸式測量，實現(xiàn)一系列全新應(yīng)用。它可以提供多達六個流通池或探頭的光纖連接MATRIX-F emission或MATRIX-F duple。
MATRIX-F不僅可以配置傳統(tǒng)光纖探頭和流通池，還可配置非接觸式測量的發(fā)射探頭
根據(jù)您的需求，MATRIX-F可以配置：
MATRIX-F: 經(jīng)典 FT-NIR 光譜儀，通過光纖連接流通池或浸入式探頭，用于固體或液體分析。
MATRIX-F emission: 特別版 MATRIX-F 光譜儀，通過光纖連接非接觸式發(fā)射探頭，僅用于非接觸式測量。
MATRIX-F duplex：經(jīng)典 MATRIX- F 的擴展型號，可同時連接常規(guī)光纖探頭和非接觸式發(fā)射探頭。
*技術(shù)
MATRIX-F 是一款專用 FT-NIR過程光譜儀，經(jīng)得任何考驗。
儀器使用的光譜技術(shù)，在緊湊的模塊系統(tǒng)中實現(xiàn)出色的靈敏性和穩(wěn)定性。其創(chuàng)新設(shè)計提供始終如一的高質(zhì)量檢測結(jié)果，并節(jié)約停機時間，模型直接傳遞，在新應(yīng)用中并不會降低靈敏度和精度。*支持工業(yè)標準通信協(xié)議，確保輕松集成。
MATRIX-F 可安裝在實驗室作為一立式系統(tǒng)，開發(fā)合適的方法，并可直接轉(zhuǎn)到您的過程應(yīng)用分析。使用NEMA 4/IP66（防濺型），MATRIX-F不僅可成為獨立系統(tǒng)，還可放入標準的 19 英寸工業(yè)機柜中。MATRIX-F可裝配6通道光纖擴展模塊。
MATRIX-F ex-proof
MATRIX-F 通過ATEX 防爆認證，并符合以下標準：
II 2G Ex px II T6 Gb
II (1) G [Ex op is T4 Ga] II C
維護
MATRIX-F 的設(shè)計確保了可靠性且易于維護。預(yù)對準安裝座上的消耗部件是用戶可更換的，無需重新對準光學(xué)元件。儀器可以快速維修，以限度地減少對制造過程的干擾。
儀器性能驗證
MATRIX-F 光譜儀內(nèi)部配備有標準材料和濾光片的自動濾光輪，由 OPUS 軟件的 OVP（Optics Validation Program）程序控制，自動按照相關(guān)標準對儀器進行性能檢測，并對儀器性能指標進行評估，以確定儀器運行狀態(tài)是否正常、規(guī)范。
連接性
CMET軟件提供工業(yè)標準接口(OPC)可以集成到各種過程控制環(huán)境中，支持各種標準通信協(xié)議，包括4-20mA、Modbus、Profibus DP 和OPC。
技術(shù)被如下保護：US 7034944
