冷熱沖擊試驗儀器常用于半導(dǎo)體行業(yè)及半導(dǎo)體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。
冷熱沖擊試驗儀器標(biāo)準(zhǔn)型型號(另:可根據(jù)客戶要求定做):
AP-TS--80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440
AP-TS--150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540
AP-TS--250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640
AP-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150
外箱尺寸:以實際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
高溫槽預(yù)熱溫度范圍:+60℃~200℃;
升溫時間: +60℃~200℃≤30min;
低溫槽預(yù)冷溫度范圍: -75~-10℃;
降溫時間: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時間為低溫槽單獨運轉(zhuǎn)時的性能﹚
試驗方式: 氣動風(fēng)門切換
溫度沖擊范圍: ﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚
溫度偏差: ±2.0℃
溫度波動度: ±0.5℃
溫度恢復(fù)時間: ≤5分鐘
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