十組通道在一臺設(shè)備
十組同步輸出與量測
ACWV / DCWV / IR 三合一安規(guī)測試
10 臺主/從機控制
可程序電壓輸出及限制值
OSC 開短路偵測
Flashover 電氣閃絡(luò)偵測
5kVac & 6kVdc 耐壓測試
1MΩ ~ 50GΩ 絕緣阻抗測試
標(biāo)準(zhǔn) RS232 / Handler / GPIB 界面
大型 LCD 面板
面板鎖定功能
CE 認(rèn)證
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相關(guān)產(chǎn)品
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耐壓測試儀19050系列/19070系列
5種規(guī)格型號可選
多通道同步耐壓測試器Chroma 19020系列
多通道 ；最多100 個待測物進(jìn)行測試；
局部放電測試器 Model 19501-K/19500
高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測試
泄漏電流鉗形表 MODEL 2434
20mA AC 最小分辨率0.1mA
泄漏電流鉗形表 MODEL 2433R
40mA/400mA/400A.，分辨率達(dá)到0.01mA.
+了解更多產(chǎn)品型號 -
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產(chǎn)品特點
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同步耐壓測試多顆待測物耐壓測試碰見的課題是輸出無法同步。在產(chǎn)線規(guī)劃或自動化規(guī)劃時，為達(dá)到設(shè)備極小化及空間利用，二個待測物之間的距離會很 小。以輸出電壓5kVac為例，當(dāng)耐壓測試器的輸出不同步時，將會造成二個待測物之間產(chǎn)生高電壓差(可達(dá)14kV peak-peak) 的放電，導(dǎo)致治具損壞及測試誤判。Chroma 19020將輸出電壓同步化，相鄰的二端高壓之間將不會發(fā)生高壓差而導(dǎo)致放電，不但可延長您產(chǎn)線設(shè)備的壽命，也減少測試誤判的情形發(fā)生。
同步耐壓測試多顆待測物耐壓測試碰見的課題是輸出無法同步。在產(chǎn)線規(guī)劃或自動化規(guī)劃時，為達(dá)到設(shè)備極小化及空間利用，二個待測物之間的距離會很 小。以輸出電壓5kVac為例，當(dāng)耐壓測試器的輸出不同步時，將會造成二個待測物之間產(chǎn)生高電壓差(可達(dá)14kV peak-peak) 的放電，導(dǎo)致治具損壞及測試誤判。Chroma 19020將輸出電壓同步化，相鄰的二端高壓之間將不會發(fā)生高壓差而導(dǎo)致放電，不但可延長您產(chǎn)線設(shè)備的壽命，也減少測試誤判的情形發(fā)生。
電氣閃絡(luò)(Flashover)偵測19020 與Chroma其它安規(guī)測試系列儀器同樣具有Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成瞬時或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。
電氣閃絡(luò)(Flashover)偵測19020 與Chroma其它安規(guī)測試系列儀器同樣具有Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成瞬時或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。開短路偵測(OSC)OSC 功能為偵測測試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)的情形發(fā)生。測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象，會導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測試成本。
一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間，一旦發(fā)生連接斷路則會在斷路界面形成微小電容量(圖6)，一般低于10pF，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測物短路或接近短路時時則會呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?，F(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問題。
開短路偵測(OSC)OSC 功能為偵測測試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)的情形發(fā)生。測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象，會導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測試成本。
一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間，一旦發(fā)生連接斷路則會在斷路界面形成微小電容量(圖6)，一般低于10pF，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測物短路或接近短路時時則會呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?，F(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問題。
