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  • 局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500

局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500

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  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新時(shí)間2022-08-27
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 入駐年限1
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量570
  • 人氣值885
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北京博宇訊銘科技有限公司

美爾諾電子負(fù)載、可編程電源,遠(yuǎn)方功率分析儀、變頻電源,金科LCR測(cè)試儀,美瑞克安規(guī)測(cè)試儀

一級(jí)總代

1、生產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室提供穩(wěn)壓電源,編程電源,變頻電源
2、為電源電池檢測(cè)生產(chǎn)企業(yè)提供電子負(fù)載,可編程電源配套設(shè)備
3、為維修、生產(chǎn)企業(yè)提供電子測(cè)量?jī)x器、安規(guī)檢測(cè)儀器、元器件分選儀器
4、為維修、加工生產(chǎn)企業(yè)及個(gè)體提供焊臺(tái)風(fēng)槍

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Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(Hipot Tes t)與局部放電(Partial D i s c h a rg e, P D)偵測(cè)功能于一單機(jī),提供交 流 電 壓 輸 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V , 漏電流測(cè)量范圍0 . 0 1 µ A ~3 0 0 µ A,局部放電偵測(cè)范圍1pC~2000pC,針對(duì)高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。
局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500 產(chǎn)品詳情
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  • 產(chǎn)品特點(diǎn)

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    單機(jī)內(nèi)建交流耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)功能

    可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac

    高精度及高分辨率電流表 0.01µA~300µA

    局部放電(PD)偵測(cè)范圍 1pC~2000pC

    高壓接觸檢查功能( HVCC)

    符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法規(guī)測(cè)試要求

    內(nèi)建IEC60747-5-5測(cè)試方法

    量測(cè)與顯示單元分離式設(shè)計(jì)

    三段電壓測(cè)試功能

    PD測(cè)量結(jié)果數(shù)值顯示 (pC)

    PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定 (1~10)

    多語(yǔ)系繁中/ 簡(jiǎn)中/英文操作界面

    USB畫面擷取功能

    圖形化輔助編輯功能

    標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232遠(yuǎn)端控制界面

    局部放電 Partial Discharge
    局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電,且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。 局部放電測(cè)試器對(duì)待測(cè)物施加一個(gè)特定條件下的電壓,測(cè)量其視在放電電荷量(PD),除了驗(yàn)證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力,同時(shí)也驗(yàn)證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測(cè)試能夠偵測(cè)待測(cè)物是否存在異常氣隙,透過(guò)施加一個(gè)略高于元件額定工作電壓的局部放電電荷測(cè)試,用以檢驗(yàn)電氣元件在正常工作電壓條件下之長(zhǎng)久可靠性,但于實(shí)際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當(dāng)然不可能無(wú)氣隙存在于絕緣材料內(nèi),故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對(duì)局部放電測(cè)試定義其放電電荷量不能大于5pC (qpd=5pC)。
    局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500
    局部放電 Partial Discharge
    局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電,且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。 局部放電測(cè)試器對(duì)待測(cè)物施加一個(gè)特定條件下的電壓,測(cè)量其視在放電電荷量(PD),除了驗(yàn)證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力,同時(shí)也驗(yàn)證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測(cè)試能夠偵測(cè)待測(cè)物是否存在異常氣隙,透過(guò)施加一個(gè)略高于元件額定工作電壓的局部放電電荷測(cè)試,用以檢驗(yàn)電氣元件在正常工作電壓條件下之長(zhǎng)久可靠性,但于實(shí)際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當(dāng)然不可能無(wú)氣隙存在于絕緣材料內(nèi),故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對(duì)局部放電測(cè)試定義其放電電荷量不能大于5pC (qpd=5pC)。
    局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500
    局部放電器校正

    局部放電測(cè)試設(shè)備用于測(cè)量與判定微小放電量,其訊號(hào)非常微小且快速,因此局部放電量測(cè)設(shè)備于出廠前必須透過(guò)精密的校正才能確保放電發(fā)生時(shí),其高頻訊號(hào)能夠被精確的測(cè)量,在高壓試驗(yàn)技術(shù)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)IEC60270-1章節(jié)中對(duì)于局部放電的校正標(biāo)準(zhǔn)與方法在法規(guī)條文中有明確指示跟說(shuō)明,Chroma 19501-K 局部放電器亦依據(jù)法規(guī)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。校正器上所使用的標(biāo)準(zhǔn)電容Co通常為一個(gè)低壓電容器,因此執(zhí)行PD校正時(shí)局部放電測(cè)試器設(shè)備是在不帶電的狀態(tài)下進(jìn)行校正,也就是只針對(duì)PD量測(cè)回路執(zhí)行校正,在法規(guī)內(nèi)文中也有說(shuō)明,為了使校正有效,用于校正器上的標(biāo)準(zhǔn)電容Co必須小于0.1 Ca,則校正器上的脈沖等效放電量qo=VoCo 單次放電脈沖。如圖說(shuō)明 :

    局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500
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    局部放電器校正

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    高精準(zhǔn)量測(cè)

    Chroma 19501-K擁有高精度的局部放電測(cè)量,具有兩個(gè)量測(cè)檔位,分別為200pC2000pC 檔位,測(cè)量范圍從1pC~2000pC,在200pC檔位下分辨率為0.1pC,高精度的測(cè)量與直觀性的將量測(cè)結(jié)果顯示在畫面上,有助于對(duì)高絕緣物體進(jìn)行微小放電量判定與分析。

    局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500
    高精準(zhǔn)量測(cè)

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    局部放電測(cè)試器 Model 19501-K/19500
熱門產(chǎn)品
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