美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點:
· 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
· 粒徑通道用戶可調
· 檢測粒徑范圍:0.3-10微米,最多16通道
· 顆粒物粒徑感應范圍:0.5至25mm
· 檢測濃度范圍:0-3000 個/cm3
· 彩色觸摸屏,直觀的用戶界面
· ISO 21501-01/04要求
· 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質量濃度
· 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
· 電池電量可供20小時的操作
· 最多可存儲30000個數(shù)據(jù)
· 記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數(shù)
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
3,000個/cm3 (3,000,000個/L)
質量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :最多16通道,用戶可調