VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。
得益于VERTEX 80/80v 的光學設計，系統(tǒng)不僅具備的靈活性，還擁有的性能。布魯克光學的DigiTect™技術，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。
特點
譜區(qū)擴展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預準直光學元件以及主動準直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。
BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整
全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中，由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠將中紅外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。
光學分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標準配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標點光譜分辨率，這足以進行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于*的低溫工作，例如在晶體半導體材料或低壓力下進相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現(xiàn)的光譜分辨率?？梢姽庾V范圍內的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。
多功能
創(chuàng)新的光學設計使靈活性和拓展能力的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來的成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學研究領域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側、前側和左側布有5個光束輸出端口，右側和后側有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側輸入端口的同步輻射光源、右側輸出口的 PMA50 偏振調制附件、右前側端口的光纖耦合模塊、左前側的輻射熱測量計探測器以及左側輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。
光譜范圍：可擴展光譜范圍50000cm-1～10cm-1
光譜辨率：優(yōu)于0.06 cm-1，連續(xù)可調
透過率精度：優(yōu)于0.06%T
波數(shù)精度：優(yōu)于±0.005 cm-1
信噪比：優(yōu)于60,000：1
