使用速度為 1M 采樣/秒的 18 位數(shù)字化儀對(duì)復(fù)雜波形進(jìn)行采樣
存儲(chǔ)高達(dá) 2750 萬(wàn)個(gè)讀
使用高達(dá) 14 ppm 的 1 年期精度直流電壓,通過(guò)高測(cè)試不確定度比率實(shí)現(xiàn)測(cè)試質(zhì)量
將源和測(cè)量與 2606B 高密度 4 通道源測(cè)量單元 (SMU) 和 DMM7512 相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn) 4 通道采樣和 2 通道測(cè)量功能,而占用的機(jī)架空間僅為 2U
以低于 500 ns 的延遲同步測(cè)量值
DMM7512 TSP 代碼與 DMM7510 TSP 代碼兼容
以 0.1 μΩ 和 1 pA 靈敏度測(cè)試用于低功率電路中的組件
內(nèi)置測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 可在無(wú)需控制器交互的情況下執(zhí)行測(cè)試序列,從而減少測(cè)試時(shí)間和通信開(kāi)銷(xiāo),同時(shí)利用控制器執(zhí)行其他任務(wù)
無(wú)需在 DMM7512 或 2606B 之間提供額外空間以用于熱管理
在 TSP-Link 測(cè)試系統(tǒng)中最多可控制 32 臺(tái)儀器
消除儀器和 PC 之間耗時(shí)的通信