TT260A涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
特點(diǎn)：
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可使用10種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
具有電源欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
原理
TT260A 涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型測(cè)頭)
當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測(cè)頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
技術(shù)參數(shù)表
| 測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | ||||
| 工作原理 | 磁 感 應(yīng) | ||||||||
| 測(cè)量范圍(um) | 0～400 | 0～1250 | 0～5000 | 0～10000 | |||||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||
| 示值 誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+5) | ±(3%H+10) | |||||
| 二點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+5) | ±((1～3)%H+10) | |||||
| 測(cè) 試 條 件 | *小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | ||
| *小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | ||||
| 基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | ||||
| | | | | | | | | | |
| 測(cè)頭型號(hào) | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | ||||||
| 工作原理 | 渦 流 | ||||||||||
測(cè)量范圍(um) | 0～400 | 0～1250 | 10～200 | 0～10000 | |||||||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||||
| 示 值 誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ±(3%H+25) | ||||||
| 二點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3%H+0.7) | ±[(1～3)%H+1.5] | ___ | ±((1～3)%H+25) | |||||||
| 測(cè) 試 條 件 | *小曲率半徑(mm) | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 僅為平直 | 25 | ||||
| *小面積的直徑(mm) | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | ||||||
| 基體臨界厚度(mm) | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | 50mm鋁箔 | ||||||
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注：H——標(biāo)稱值
