半導體顯微膜厚測量儀2-儀表網(wǎng)

公司介紹主營產(chǎn)品

由具有10年以上工作經(jīng)驗的海歸和海外專家團隊組建。公司創(chuàng)始團隊在硅谷長期從事薄膜檢測技術(shù)相關(guān)軟件和技術(shù)的研究，應(yīng)用。在相關(guān)光學寬光譜設(shè)備的設(shè)計，制造和應(yīng)用方面有著豐富的經(jīng)驗，。從事面向智能手機，半導體，玻璃鍍膜，LCD平板顯示，LED/OLED，太陽能，汽車等行業(yè)在線離線薄膜檢測高科技技術(shù)和裝備的研發(fā)，設(shè)計，制造，技術(shù)服務(wù)和銷售。為相關(guān)行業(yè)的鍍膜工藝提供薄膜檢測設(shè)備，軟件，服務(wù)和成套解決方案。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

面向單銀

半導體顯微膜厚測量儀2 產(chǎn)品詳情

面向單銀，雙銀，三銀及以上的Low E/浮法線透過率，顏色，膜厚在線測量系統(tǒng)
測量生產(chǎn)線腔體內(nèi)的透射率和顏色以監(jiān)控每一步鍍膜工藝
檢測成品的膜面反射率/顏色值，透射率顏色值，玻面多角度反射率/顏色值以對雙銀及以上的鍍膜工藝進行精確控制，非接觸式檢測膜面表面電阻率
優(yōu)化擬合軟件可以用來計算膜厚并進行膜系設(shè)計
配套軟件特性：
光譜數(shù)據(jù)和面電阻測量;膜系開發(fā)和仿真;根據(jù)光譜數(shù)據(jù)擬合每層膜厚度;測算每層材料折射率等
菜單管理
離線監(jiān)控和歷史數(shù)據(jù)界面
輸出至SQL服務(wù)器；小型內(nèi)置式SQL
可根據(jù)客戶要求定制界面

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產(chǎn)品介紹
Product Information

關(guān)鍵詞：服務(wù)器

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
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