a、利用X射線熒光光譜技術(shù),對用于土壤、污泥、固廢、化妝品等介質(zhì)中As、Pd、Hg多種元素的現(xiàn)場分析測定,無需樣品前處理,短時(shí)間快速分析;
b、分析模式多樣化:具備土壤、工業(yè)用地、農(nóng)業(yè)用地等多種模式,能夠依據(jù)元素結(jié)果和內(nèi)置環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)(可自定義)快速判斷樣品是否達(dá)標(biāo),
c、安全系統(tǒng):設(shè)備前端設(shè)有紅外和可見光雙探測器,環(huán)保性能佳,測試窗口無樣品時(shí),自動(dòng)關(guān)閉X射線;
d、操作系統(tǒng):中文操作界面,屏幕與主機(jī)一體化固定角度設(shè)計(jì);
e、檢出限:ppm級(jí)別,特定元素檢出限:Hg、Cd<>,測量時(shí)間:≤30s,儀器外置標(biāo)準(zhǔn)片,開機(jī)免校準(zhǔn)。