特點(diǎn)：
結(jié)合用途配備豐富的功能
以DUT特性的設(shè)定，支持高重現(xiàn)性且準(zhǔn)確的測(cè)量
準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)基于實(shí)際使用的操作條件
電子零件、電子材料可能因測(cè)量頻率及施加的信號(hào)級(jí)別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴(lài)性，二極管等半導(dǎo)體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評(píng)價(jià)真實(shí)的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實(shí)際的操作條件下進(jìn)行測(cè)量。
● 掃頻
● 延遲功能
● 標(biāo)記操作
● 測(cè)量條件等的設(shè)定
● 自動(dòng)高密度掃頻
● 順序測(cè)量
● 量程
● 誤差校正
● 圖表顯示
豐富的功能
● 共振點(diǎn)跟蹤測(cè)量
● 相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量
● 外部基準(zhǔn)時(shí)鐘
● 等效電路估算
● 相對(duì)導(dǎo)磁率測(cè)量
● 存儲(chǔ)器操作
● 壓電常數(shù)計(jì)算
● 比較器 / 處理器接口
掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬
不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù)，按恒定的條件進(jìn)行測(cè)量，觀察不同時(shí)間的特性變化（橫軸：時(shí)間）
“True Value”
測(cè)量真正的特性。
▲ ZA57630
從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評(píng)價(jià)，應(yīng)對(duì)多樣的阻抗測(cè)量需求
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
?5 V ～ +5 V/?40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速測(cè)量
實(shí)現(xiàn)了業(yè)界的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時(shí)間，提高測(cè)量作業(yè)的效率。
此外，通過(guò)增加設(shè)定的測(cè)量時(shí)間，使測(cè)量結(jié)果平均化，減輕噪聲的影響?？梢曅枰x擇最合適的測(cè)量時(shí)間。
4種測(cè)量模式 應(yīng)對(duì)廣泛的DUT
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量模式
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測(cè)量。可使用測(cè)試線及測(cè)試夾具，應(yīng)對(duì)各種形狀的試樣。
高頻測(cè)量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進(jìn)行穩(wěn)定的測(cè)量。使用 N 型連接器進(jìn)行 2 端子測(cè)量，即便配線長(zhǎng)，也可以進(jìn)行穩(wěn)定的測(cè)量。
外部擴(kuò)展測(cè)量模式
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進(jìn)行測(cè)量。
可以通過(guò)施加高壓信號(hào)或檢測(cè)微小電壓 / 電流進(jìn)行單獨(dú)使用本儀器無(wú)法應(yīng)對(duì)的測(cè)量。
增益/相位測(cè)量模式
本模式可以測(cè)量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測(cè)電路施加掃描信號(hào)，高精度地測(cè)量其頻率響應(yīng)（增益、相位）。
正面面板測(cè)量端子
