用于 I-V 檢定的精密儀器
較之單獨(dú)的儀器，SourceMeter 儀器的緊密耦合特性具有諸多優(yōu)勢(shì)。由于能夠?qū)⑿盘?hào)源和儀表安裝在半機(jī)架式外殼中，從而節(jié)省寶貴的機(jī)架空間，并簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程編程接口。
特點(diǎn)：
用于在各種設(shè)備和材料上進(jìn)行 I-V 檢定的精密儀器
SMU 可以輸出電流或電壓
SMU 可以測(cè)量電流和電壓
通過(guò)內(nèi)置電壓/電流掃描功能大大加快吞吐量
SourceMeter 儀器提供的掃描解決方案可通過(guò)自動(dòng)化掛鉤極大地加快測(cè)試速度，從而進(jìn)一步提高吞吐量。無(wú)論您是對(duì)晶體管執(zhí)行掃描、僅驗(yàn)證連接器完整性、檢定器件性能，還是實(shí)際上以高精度進(jìn)行任何直流伏安檢定，均是如此。
特點(diǎn)：
線性階梯掃描
對(duì)數(shù)階梯掃描
自定義掃描
與開(kāi)關(guān)系統(tǒng)集成以進(jìn)行快速多點(diǎn)測(cè)試
SourceMeter 系列儀器功能廣泛，因此能夠?yàn)樵S多行業(yè)的各種應(yīng)用提供出色的解決方案。為在快速多點(diǎn)測(cè)試應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)無(wú)縫集成，請(qǐng)將 SourceMeter 儀器與 Keithley 開(kāi)關(guān)系統(tǒng)結(jié)合使用。
特點(diǎn)：
測(cè)試半導(dǎo)體設(shè)備
測(cè)試電路保護(hù)裝置
測(cè)試光電組件
用于加速壓力測(cè)試
幫助工科學(xué)生準(zhǔn)備好將想法變成現(xiàn)實(shí)
Keithley SourceMeter SMU 非常適用于向?qū)W生傳授歐姆定律和 I-V 檢定概念以供實(shí)驗(yàn)室練習(xí)，從而更好地了解電子設(shè)備的行為和使用方式。SMU 為學(xué)生提供所需經(jīng)驗(yàn)，從而讓其整裝待發(fā)，應(yīng)對(duì)行業(yè)挑戰(zhàn)。
特點(diǎn)：
將 5 種儀器的功能集一身
簡(jiǎn)化教學(xué)實(shí)驗(yàn)工作臺(tái)
有益于研究生科研
型號(hào) | 觸摸屏 | 通道 | 電流源/量程 | 電壓源/量程 | 測(cè)量分辨率（電流/電壓） | 電源 |
2401 | 否 | 1 | 1A | 20V | 1pA / 100nV | 20 W |
2400 | 否 | 1 | 1A | 200V | 1pA / 100nV | 20 W |
2420 | 否 | 1 | 3A | 60V | 10pA / 100nV | 60 W |
2410 | 否 | 1 | 1A | 1100V | 1pA / 100nV | 20 W |
2440 | No | 1 | 5A | 40V | 10pA / 100nV | 50 W |
