- 設(shè)備描述
EXFO WA-1100 光波長計(jì)
產(chǎn)品簡介:
Burleigh WA-1100光波長計(jì)采用基于邁克爾遜干涉計(jì)的W**波長計(jì)技術(shù),通過將被測光信號的干涉條紋圖與內(nèi)置的HeNe激光波長標(biāo)準(zhǔn)相比較,確定被測光信號的波長。
范圍:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。
準(zhǔn)確度:±1.5 pm。
顯示分辨率:0.001 nm。
準(zhǔn)確度:±0.5 dB(1310和1550 nm處±30 nm處)。
功率分辨率:0.01 dB。功率線性:±0.3 dB。
功率顯示分辨率:0.01 dB。
光學(xué)輸入信號靈敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。輸入電平(所有線路的總和):+ 10 dBm (10 mW)。
測量周期:0.1秒(10次/秒)。
儀器接口:GPIB (IEEE-488.2), RS-232, LabVIEW, LabWindows