WK4100系列 LCR表產(chǎn)品參數(shù)：
1J4110 頻率范圍20Hz~100kHz
1J4120 頻率范圍20Hz~200kHz
1J4150 頻率范圍20Hz~500kHz
1J41100 頻率范圍20Hz~1MHz
? 測試頻率：20Hz—1MHz
? 基本精度：0.1%
? 測試速度：〈20ms
? 提供B1、B2、S1和S2測包訊號，可連接各家封裝測試機
? 測試參數(shù)：阻抗(Z), 相位角(θ)、交流電阻（Rac）、電容(C), 損耗因數(shù)(D),電感(L), 品質(zhì)因數(shù)(Q),電納(B), 電導(G), 電抗(X), 導納(Y)和直流電阻（Rdc）
? 交流信號源：10mV—2Vrms
? 通信接口：GPIB、RS232、LAN和USB
? 直流疊加：內(nèi)置+2V，外加0—±40V
? 具有帶電電容器放電保護電路
? 體積小、重量輕、性價比更高的元器件測試儀器
WK4100系列 LCR表適用范圍：
0.1% 基本精確度,266PCS/分產(chǎn)量~540PCS/分
雙頻測試,四項參數(shù)顯示
4110頻率范圍20Hz~100kHz
4120頻率范圍20Hz~200kHz
4150頻率范圍20Hz~500kHz
41100頻率范圍20Hz~1MHz
GPIB USB,LAN,RS232界面與操作軟件
測試參數(shù):Z, Rac, C, D, L, Q, B, G, X, Y, Rdc
