無(wú)需貼點(diǎn)
基于反光標(biāo)記點(diǎn)跟蹤技術(shù),TrackScan掃描無(wú)需貼點(diǎn),大大提高了工作效率
支持接觸式測(cè)量
T-Probe靈活性,測(cè)量范圍廣,單點(diǎn)重復(fù)性0.030mm,用于接觸測(cè)量基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)、特征等關(guān)鍵部位
雙色激光
紅光掃描模式高效靈活,藍(lán)光掃描模式0.020mm超高分辨率,輕松獲取物體細(xì)節(jié)
復(fù)合定位
支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式,根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)情況靈活切換