?3 種頻率選件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz，可升級(jí)
?±0.65% 基本精度和 120 m? 至 52 k? 阻抗范圍（10% 測(cè)量精度范圍）
?測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要選件 001）
?內(nèi)置直流偏置（選件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA
?10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏可顯示 4 個(gè)通道和 4 條跡線
?數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測(cè)試
?介電/磁性材料測(cè)量（選件 002） ：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)
?溫度特征測(cè)量（選件 007)和可靠的晶圓上測(cè)量（選件 010）功能
描述
E4991B 阻抗分析儀具有 1 MHz 至 3 GHz 的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供 0.65% 的基本精度，并且內(nèi)置 40 V 直流偏置源（選件 001）。等效電路分析功能支持 7 種不同的多參數(shù)模型，可幫助您仿真元器件的等效參數(shù)值。
3 種頻率選件（1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz）以及頻率升級(jí)選件使您可以根據(jù)的投資額度選購的選件。
材料測(cè)量選件提供溫度特征分析功能（選件 007），并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的讀數(shù)（選件 002）。
探頭臺(tái)連接套件（選件 010）可在高達(dá) 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)提供精確的晶圓上或微型元器件阻抗測(cè)量解決方案。
E4991B 支持多款測(cè)試附件，因此能夠降低測(cè)量復(fù)雜性并提高可靠性。
無論您是從事研發(fā)、質(zhì)保還是質(zhì)檢工作，E4991B 都可以幫助您出色地表征和測(cè)試電子元器件、半導(dǎo)體器件和材料。
應(yīng)用示例：
?無源元器件：電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻器或晶體/陶瓷諧振器等芯片元器件的阻抗測(cè)量。
?半導(dǎo)體元器件：變?nèi)荻O管的 C-V 特征分析和等效串聯(lián)電阻測(cè)量。
?介電材料：塑料、陶瓷和印刷電路板的介電常數(shù)和損耗因數(shù)測(cè)試。
?±0.65% 基本精度和 120 m? 至 52 k? 阻抗范圍（10% 測(cè)量精度范圍）
?測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要選件 001）
?內(nèi)置直流偏置（選件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA
?10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏可顯示 4 個(gè)通道和 4 條跡線
?數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測(cè)試
?介電/磁性材料測(cè)量（選件 002） ：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)
?溫度特征測(cè)量（選件 007)和可靠的晶圓上測(cè)量（選件 010）功能
描述
E4991B 阻抗分析儀具有 1 MHz 至 3 GHz 的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供 0.65% 的基本精度，并且內(nèi)置 40 V 直流偏置源（選件 001）。等效電路分析功能支持 7 種不同的多參數(shù)模型，可幫助您仿真元器件的等效參數(shù)值。
3 種頻率選件（1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz）以及頻率升級(jí)選件使您可以根據(jù)的投資額度選購的選件。
材料測(cè)量選件提供溫度特征分析功能（選件 007），并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的讀數(shù)（選件 002）。
探頭臺(tái)連接套件（選件 010）可在高達(dá) 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)提供精確的晶圓上或微型元器件阻抗測(cè)量解決方案。
E4991B 支持多款測(cè)試附件，因此能夠降低測(cè)量復(fù)雜性并提高可靠性。
無論您是從事研發(fā)、質(zhì)保還是質(zhì)檢工作，E4991B 都可以幫助您出色地表征和測(cè)試電子元器件、半導(dǎo)體器件和材料。
應(yīng)用示例：
?無源元器件：電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻器或晶體/陶瓷諧振器等芯片元器件的阻抗測(cè)量。
?半導(dǎo)體元器件：變?nèi)荻O管的 C-V 特征分析和等效串聯(lián)電阻測(cè)量。
?介電材料：塑料、陶瓷和印刷電路板的介電常數(shù)和損耗因數(shù)測(cè)試。
?磁性材料：鐵氧體、非晶體和其他磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗因數(shù)測(cè)試。
