1. 配備了半導(dǎo)體探測(cè)器,由于有更好的信噪比,能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
2. 使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn),但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低,不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
3. 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙
4.有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)
1. 鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
2. 來(lái)料檢驗(yàn),生產(chǎn)監(jiān)控
3. 研究和開(kāi)發(fā)
4. 電子工業(yè)
5. 接插件和觸點(diǎn)
6. 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
7. 可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
8. 痕量元素分析
9. 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量
10. 硬質(zhì)鍍層分析