多通道紅外顯微鏡IRT-7200，全自動紅外顯微鏡IRT-7100
▼概要IRT-7100/7200采用高輝度照明以及高解像度照相機比原來的機型性能有很大的提高，提高了信噪比。IRT-7200配有16通道MCT陣列檢測器、高速自動樣品臺、和現(xiàn)有的單素子檢測器映射測量相比時間縮短，為現(xiàn)有的1/100。另外、IRT-7100是單素子MCT檢測器機型、快速掃描和高速自動樣品臺、高速數(shù)碼I/O界面、比現(xiàn)有的映射測量快近10倍。
◆特征
?同時配有陣列檢測器和單素子檢測器、還可對應各種檢測器（IRT-7200）
?用戶界面可簡單操作高性能的成像
?智能顯示器功能，可同時實現(xiàn)顯微畫像觀察和測量紅外光譜
?結合智能映射功能實現(xiàn)ATR映射
?根據(jù)動態(tài)范圍成像可以測量時間分解映像（IRT-7200）
?陣列檢測器可以升級（IRT-7100）
?包括樣品臺周圍可以真空對應
◆ATR成像測量
彩色3D畫像顯示了1100cm-1附近的Si-O峰面積。
卡塞格林ATR和智能映射功能組合可以測量ATR成像。因為使用棱鏡屈折率的原因比普通的透過，反射測量更容易聚光，可以測量微小部分。而且，多通道ATR映射可以測量更廣的范圍。
◆顯微畫像和等高線圖重疊表示
用鼠標點化學影像，纖維畫像和化學影像可疊加表示。
因為可以表示二維數(shù)據(jù)的色彩區(qū)分，等高線圖、合成顯微畫像、所以可得到認識性好的解析數(shù)據(jù)。
◆規(guī)格
▼IRT-7200
| 機型 | IRT-7200 |
| 對應FTIR主機 | FT/IR-4000系列、6000系列 |
| 測光方式 | 透過?反射測量 |
| 觀察方式 | 直接測量方式 |
| 檢測器 | 標準：中波段 MCT檢測器 選項：窄波段MCT檢測器、寬波段MCT檢測器、DLATGS檢測器 InSb検出器、InGaAs檢測器、陣列中波段檢測器MCT 陣列InSb檢測器、陣列InGaAs檢測器 |
| 檢測器切換 | 選項：配有2個檢測器（軟件切換）、第2個檢測器裝卸配置 |
| SN比 | 1500:1(陣列MCT檢測器)、8000:1(單元件MCT檢測器) |
| 像素分解 (陣列MCT) | 6.25μm□(32倍)、12.5μm□(16倍)、20μm□(10倍：可選) |
| 測量時間 (陣列MCT) | 1.6秒 (FT/IR-6000、測量區(qū)域100×100μm、像素分解6.25μm□、分解16cm-1、1回計算) |
| 觀測 | 智能顯示器（可同時測量和觀察樣品） CMOS照相機：帶3倍光學鏡頭 選項：彩色液晶顯示器、二眼鏡筒（內置ATOS） |
| 觀察照明 | 帶自動照亮功能 |
| 聚焦 | 標準 |
| 物鏡 | 標準：16倍、32倍可選擇、選項：10倍 |
| 物鏡鏡頭 | 選項：10倍、20倍 |
| 対物鏡切換裝置 | 4孔自動旋轉器、帶対物自動識別裝置 |
| 集光鏡 | 16倍、32倍、10倍(選項) |
| 集光鏡自動調節(jié) | 標準功能 |
| 光圈 | 自動2軸獨立可變、回轉(單元件檢測器使用時) |
| 樣品臺 | 標準：自動XYZ樣品臺、選項：控制桿 |
| 真空 | 選項 |
| 智能映射功能 | 不受樣品臺影響的局部映射 ATR映射、線映射、多點測定 |
| 自動控制XYZ臺 （安裝自動XYZ樣品臺時） | 樣品臺移動、定中心、ATR映射、多點測定、 線映射、自動聚焦、ATR控制圧力、多點ATR映射 |
| 數(shù)據(jù)処理 | 峰高、2峰高比、峰面積、2峰面積比、峰漂移 峰半値寬、計算距離 |
| 成像顯示 | 彩色3D表示、鳥瞰圖表示、等高線表示、分色表示 三次元表示、二次元表示、編程表示 |
