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產品特點:
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數(shù)字化X射線勞厄解決方案
系統(tǒng)采用*的背向散射角度采集和最終對準精度可以低至0.2度(需求可達0.02度),與高靈敏度偏振片相比,曝光時間可減少2個數(shù)量級以上,實現(xiàn)實時勞厄圖案記錄。
結合電動樣本旋轉平臺,系統(tǒng)的晶體定位程序變得更簡單、更靈活。
采集軟件從電腦提供準備好索引的數(shù)字圖像到Linux程控設備,系統(tǒng)利用Orient Express軟件分析圖像,獲得晶向或用已知結構對現(xiàn)有晶體進行標引。
集成光束準直到數(shù)字勞厄探測器,比薄膜圖案采集快10倍以上
數(shù)字勞厄探測器允許比薄膜更快的收集
相機系統(tǒng)可安裝銅、鉬或者鎢靶X光源(長細聚焦、細聚焦或者點聚焦)。X光源在相機內準直后直接照射到樣品上,可與高靈敏度偏振片的凈磁通增益相當。根據晶體材料和使用光源,可以在1至30秒曝光后記錄勞厄圖案。
數(shù)字化X射線勞厄探測器可以在一小時內安裝,替代傳統(tǒng)的偏振勞厄感光片
數(shù)字勞厄相機配備了綜合校準套件,技術人員/工程師可以對傳統(tǒng)的膠片暗盒探測器進行升級換代。
準直器的選擇,可以讓你根據測量晶體種類選擇正確的通量/分辨率。
標準數(shù)字化勞厄相機比高靈敏度偏振片減少了兩倍的數(shù)據采集時間。