美國APT四線法開爾文探針夾具
APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，提供小電阻的測試準確性。另外，一些高頻測試，比如
150M左右，也可以采用這個。Currentleakage:150MHz
美國APT四線法開爾文探針夾具
APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，提供小電阻的測試準確性。
另外，一些高頻測試，比如150M左右，也可以采用這個。
美國原裝APT探針，主要具備如下特點：
Current leakage:<10 fA. （漏電精度高）
Frequency: > 150 MHz （測試頻率高）
Capacitance (Guarded):<10 fF
Impedance: 50 Ohm
Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C
Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level
此探針需要配合探針座和探開爾文夾具使用。其中，每個夾具都自帶一根探針。
我司常年有現貨，貨期有保障。
美國APT四線法開爾文探針夾具
下面是一些APT探針的實物照片供參考。
優(yōu)測國芯電子科技（深圳）有限公司是一家致力于提供半導體和自動化設備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術企業(yè)。我們集研發(fā)、生產、銷售和服務于一體，不僅擁有*的生產設備、加工工藝及品質檢測體系，也擁有涉及材料、物理、化學、微電子、機械等專業(yè)的技術團隊?，F在主營的產品有：4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺等，可以完成I-V/C-V測試，脈沖I-V測試，RF/mmW測試，高壓、大電流測試，MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設計人員也可以按客戶的要求量身定制，如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等，在常規(guī)探針臺功能上進行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。
