儀器概述
余弦校正器是一種用于光譜輻射取樣的光學(xué)元件,用于收集 180°立體角內(nèi)的光,從而消除了其它取樣裝置中由于光收集取樣幾何結(jié)構(gòu)限制所導(dǎo)致的光學(xué)耦合問(wèn)題。
BIM-6320-01余弦校正器可以直接耦合 SMA905 接口,與光纖和光譜儀連接。有效直徑3.9mm,采用進(jìn)口PTFE材料,波長(zhǎng)范圍200~1100nm??捎糜跍y(cè)量太陽(yáng)輻射光、LED光、激光、環(huán)境光、以及對(duì)其它發(fā)光光源進(jìn)行分析測(cè)試。
應(yīng)用領(lǐng)域
測(cè)量UV-A和UV-B太陽(yáng)輻射光、LED光、激光、環(huán)境光、以及對(duì)其它發(fā)光光源分析測(cè)試
儀器特點(diǎn)
可收集180°視場(chǎng)角的光
采用聚四氟乙烯漫射材料
可方便與光纖進(jìn)行耦合
技術(shù)參數(shù)
光譜范圍 | 200nm-1100nm |
光學(xué)漫射器 | Spectralon |
尺寸 | ∅6.4×17.5mm |
漫射器(直徑) | 3.9mm |
漫射器(厚度) | 1mm |
視場(chǎng)角 | 180° |
接口 | SMA905 |