基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描(CT)
利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),僅需一次 X 射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺,滿足客戶對精度的高要求。
利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務(wù)
測量與檢驗(yàn)整體部件
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時,此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測
利用 ZEISS METROTOM 計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn),且具可追溯性。和接觸式測量方法不同,ZEISS METROTOM 獲取海量測量點(diǎn)時,時間顯著縮短。