國儀量子場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000

產(chǎn)品介紹

SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。

*的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設計的人機交互，優(yōu)化的操作和使用流程，無論經(jīng)驗是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務。

電子槍類型           高亮度肖特基場發(fā)射電子槍

加速電壓             0.1 kV ~ 30 kV

分辨率              1 nm @ 15 kV  2.5 nm @ 1 kV

樣品臺              五軸全自動樣品臺

放大倍率             1 ~ 1,000,000 x

產(chǎn)品特點

分辨率高，低加速電壓下實現(xiàn)高分辨成像

高壓隧道技術 (SuperTunnel), 在隧道中的電子能保持高能量，減少了空間電荷效應，低電壓分辨率得到保證

電子光路無交叉，有效的降低系統(tǒng)像差，提升分辨能力

電磁復合物鏡，減小像差，顯著提高低電壓下的分辨率，而且可觀察磁性樣品

水冷恒溫物鏡，保證物鏡工作的穩(wěn)定性、可靠性和可重復性

磁偏轉六孔可調(diào)光闌，自動切換光闌孔，無需機械調(diào)節(jié)，實現(xiàn)高分辨率觀察或大束流分析模式快速切換

應用領域

規(guī)格參數(shù)

電子光學系統(tǒng)

分辨率             1.0nm @ 15 kV

2.5 nm @ 1 kV

放大倍率            1 x ～ 1,000,000 x

加速電壓            0.1 kV ～ 30 kV

電子槍類型          高亮度肖特基場發(fā)射電子槍

磁場屏蔽           被動式磁屏蔽

主動式磁屏蔽（選配）

成像系統(tǒng)

探測器             鏡筒內(nèi)高角度電子探測器（Inlens-SE Detector）

側向二次電子探測器（ET Detector）

擴展               背散射電子探測器（BSE Detector）

能譜儀（EDS）

背散射衍射（EBSD）

電子束感生電流（EBIC）

陰極熒光（CL）

圖像保存格式         TIFF、JPG、BMP、PNG

樣品室

真空控制方式         全自動控制，無油真空系統(tǒng)

攝像頭             雙攝像頭

( 光學導航 + 樣品倉內(nèi)監(jiān)控 )

樣品臺配置           五軸全自動樣品臺

行程

X: 130 mm

Y: 105 mm

Z: 40 mm（大行程可選配）

R: 360°

T: -10°～ +90°

減震

主副減震支架

雙氣室隔膜式減震器

主動式減震器（選配）

軟件

語言               中文

操作系統(tǒng)            Windows

導航               光學導航、手勢快捷導航

自動功能            自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散