多功能激光共聚焦顯微熒光光譜測試系統(tǒng),基于顯微共焦技術(shù),采用高穩(wěn)定的顯微測試光路,與2D mapping技術(shù),非常適合鈣鈦礦,微納材料,二維材料,量子點等材料的顯微光譜分析應(yīng)用。內(nèi)置包含405nm 和532nm ,785等多路激光器,分別用于熒光光譜,熒光壽命測試和拉曼光譜測試。眾多的選配模塊支持不同的應(yīng)用領(lǐng)域,包括偏振拉曼/熒光光譜測試,熒光壽命測試,電致發(fā)光光譜測試,光電流mapping等。
光路配置
技術(shù)參數(shù)
顯微鏡 | 正置或者倒置顯微鏡 |
激光波長 | 375,405nm,532nm,633nm,785nm |
光譜儀配置 | 320mm焦距,深制冷前照式CCD,制冷溫度-60度 |
拉曼光譜測試范圍 | 150-4000波數(shù)(可選90-4000波數(shù)) |
熒光光譜測試范圍 | 380-1700nm(可選) |
掃描范圍 | XY方向各200um |
空間分辨率 | 1um |
選配功能** | 偏振拉曼光譜測試模塊,偏振熒光光譜測試模塊,電子倍增CCD升級, 熒光壽命測試模塊,488nm,632nm,785nm激光光源模塊,吸收光譜測試模塊 |
顯微共焦拉曼光譜測試圖