UVISEL PLUS HORIBA橢圓偏振光譜儀-儀表網

公司介紹主營產品

瓦克科技成立于2009年，總部位于上海，分公司覆蓋杭州、蘇州、寧波、南京、湖南等區(qū)域，且在其它地區(qū)擁有長期固定經銷商，是一家專業(yè)從事各種高科技儀器產品的研發(fā)生產、*、技術支持、售后管理于一體的*綜合型企業(yè)。公司以銷售為龍頭，以研發(fā)為動力，以服務為依托，主要致力于新能源、電子電器、環(huán)境監(jiān)測、質檢機構、金屬冶煉、汽車零部件、材料化工、科研高校等各行業(yè)提供成套高科技儀器一站式解決方案及配套優(yōu)質技術服務。主要產品涵蓋成分分析類、表面觀察類、物相結構分析類、探傷分析類、力學性能分析類、尺寸檢測類、環(huán)境試驗類及其它行業(yè)專用儀器等，憑借與眾多國際企業(yè)建立長期良好及緊密的戰(zhàn)略合作關系，已取得了矚目的成績，其“一站式儀器解決方案”和“配套式技術服務體系”，深受國內外用戶的青睞。公司秉承“精于科技誠于服務”的核心價值觀，堅持“以客戶為本、為客戶提供專業(yè)服務”的經營理念，與各地分公司及區(qū)域代理商一起為廣大客戶提供高品質服務，共同鑄就“成為的高科技專業(yè)儀器與服務提供商”美好愿景。期待與您：暢游科技前沿，攜手共創(chuàng)輝煌！

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產品簡介在線詢價

橢圓偏振光譜儀UVISELPLUS是一種無損無接觸的光學測量，基于測量線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學性質等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米

HORIBA橢圓偏振光譜儀產品詳情

橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS是一種無損無接觸的光學測量，基于測量線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學性質等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。

技術參數：

? 光譜范圍: 190-885nm（可擴展至2100nm）

? 微光斑可選50μm-100μm-1mm

? 探測器：分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器

? 自動樣品臺尺寸：多種樣品臺可選

? 自動量角器：變角范圍40° - 90°，全自動調整，小步長0.01°

主要特點：

? 50KHz高頻PEM相調制，測量光路中無運動部件

? 具備薄膜所需的測量精度，厚膜所需的高光譜分辨率

? 具有毫秒級快動態(tài)采集模式，可用于在線實時監(jiān)測

? 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學反應池、液體池、密封池等多種附件

? 配置靈活

關鍵詞：光譜儀

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