孔、面銅測厚儀 CMI760 | ||||||||||||||||
孔、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*的統(tǒng)計功能,統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析。
700 SERIES主機參數(shù):
l 存 儲 量:8000字節(jié),非易失性 l 尺 寸:長×寬×高292.1×270×140mm l 重 量:2.79Kg l 電 源:AC220V l 單位轉換:通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉換 l 單 位:可選mils 、μm、μin、mm、in或%為顯示單位 l 接 口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機或計算機 l 顯 示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,480(H)×32(V)象素 l 統(tǒng)計顯示:測量個數(shù),標準差,平均值,值,最小值 l 統(tǒng)計報告:需配置串行打印機或PC電腦下載,存儲位置,測量個數(shù),銅箔類型,線形銅線寬,測量日期/時間,平均值,標準差,方差百分比,準確度,值,值,值域,CPK 值,單個讀數(shù),時間戳,直方圖 l 圖 表:直方圖,趨勢圖,X-R 圖
SRP-4面銅探頭參數(shù):
l 準確度:5%,參考標準片 l 精確度:化學銅:標準差0.2 %,電鍍銅:標準差0.3 % l 分辨率:0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm,0.01mils≥1 mil,0.001mils<1mil l 厚度測量范圍:化學銅:0.25μm–12.7μm(10μin–500μin) 電鍍銅:2.5μm–254μm(0.1mil–10mil) l 線性銅線寬范圍:203μm–7620μm(8mil–300mil l 工作特點:應用*的微電阻測試技術。系繩式探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負極;測量時,電流由正極到負極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關系準確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換,為牛津儀器產(chǎn)品。探頭的照明功能和保護罩方便測量時準確定位。
ETP孔銅探頭參數(shù):
l 準確度:5%,參考標準片 l 精確度:1.2 mil 時,1.0% (典型情況下) l 分辨率:0.01 mils (0.25 μm) l 電渦流:遵守ASTM E37696 標準的相關規(guī)定 l 測量厚度范圍:2--102μm (0.08 -- 4.0 mils) l 孔最小直徑:Φ35 mils (Φ899 μm) l 孔徑范圍:Φ0.899 mm--Φ3.0 mm l 工作特點:應用電渦流測試技術。測量時利用探頭釋放出電磁波,當磁場切割金屬層時會發(fā)生磁場變化,通過計算此變化量計算出孔壁銅厚度。測量不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護層的情況下,同樣能夠良好工作。另外,探頭采用溫度補償技術,即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能測量孔銅厚度。 電渦流原理 |