典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
>測量大型工件的鍍層,如:機(jī)械零件和外殼>在電鍍過程中進(jìn)行移動實時測量
>對合金材料進(jìn)行移動實時檢測
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣,本款儀器有著確性以及長期的穩(wěn)定性,這樣就減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。
XAN500采用硅漂移探測器能夠達(dá)到高的分析精度及探測靈敏度。FISCHER*基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。儀器可以安全放置到工件上,無論是鍍層測厚或者材料分析,都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時,儀器可選配便攜式智能箱,使其成為小型的臺式測量設(shè)備,以便檢測小型樣品。