利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益
操作簡單，只需要簡單的培訓(xùn)
分析只需三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
使用功能強(qiáng)大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。
鍍層測厚儀-X-Strata系列
X-Strata920 – 性價比高，無損可靠
一款操作簡單的質(zhì)量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
新型號設(shè)計(jì)
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格，例如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata980 – 靈活、多元素、無損的材料分析
一款全面強(qiáng)大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品
快速、精確分析固體、液體和粉末
程控臺的大樣品艙方便樣品擺放和測量（可選）
集成電腦節(jié)省了臺式儀器的空間
高分辨率檢測器使檢測下限降到
應(yīng)用廣泛，包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分析
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經(jīng)濟(jì)、實(shí)用
平面樣品臺設(shè)計(jì)，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品，并精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
