Bruker Dimension Icon
主要功能
原子力顯微鏡主要用于材料的研究,如三維形貌的觀測、納米材料與粉體材料的分析、成分分析、晶體生長分析、薄膜技術(shù)(膜表面結(jié)構(gòu)、形態(tài)、污染變化等)的分析。此外在生物學(xué)(細(xì)胞的觀察)、物理學(xué)(金屬和半導(dǎo)體的表面形貌、表面重構(gòu)、電子態(tài)等)、化學(xué)(反應(yīng)過程)、微電子等領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用。
技術(shù)參數(shù)
1、XYZ閉環(huán)掃描器的設(shè)計,使儀器在較高掃描速度工作時,也不降低圖像質(zhì)量,具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。
2、*的傳感器設(shè)計,在閉環(huán)條件下,也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM,具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平,且具有*的掃描分辨率。
3、高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置。
4、新型ScanAsyst成像和帶有默認(rèn)試驗?zāi)J降腘anoScope軟件。
5、熱漂移速率低于200pm/分鐘,獲得真正的樣品圖像。
6、極大地降低噪聲水平,在輕敲模式下低于30pm,接觸模式下可獲得原子級圖像。